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透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1

參考價(jià) 1000000
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京伊微視科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2024/3/19 13:53:39
  • 訪問次數(shù) 106
產(chǎn)品標(biāo)簽

AT1缺陷掃描儀透明晶圓缺

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


北京伊微視科技有限公司是一家專注于提供顯微、膜厚測量以及光電測試設(shè)備的企業(yè)。

我們致力于為客戶提供全面的顯微設(shè)備,涵蓋從毫米到納米級別的多個(gè)領(lǐng)域。我們的產(chǎn)品線包括樣品制備設(shè)備、體式顯微鏡、數(shù)碼顯微鏡、金相顯微鏡、平面度測試儀、3D表面輪廓儀、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡以及透明晶圓缺陷掃描儀。

此外,我們還提供專業(yè)的薄膜測量設(shè)備,包括透明/半透明薄膜的反射光譜測量儀、用于納米級別測量的橢偏儀,以及針對不透光金屬鍍膜的X熒光光譜測量儀。

在光電測量設(shè)備領(lǐng)域,我們正在不斷拓展我們的產(chǎn)品線,已代理的產(chǎn)品包括Sinton的少子壽命測試和Fluxim測量軟件。

尺有所短寸有所長,每一個(gè)品牌,每一臺設(shè)備亦如此。在客戶的需求上,提供解決方案,是我們服務(wù)的宗旨。我們不僅僅是設(shè)備的銷售商,更是為客戶提供解決方案的合作伙伴。



金相顯微鏡,平面度測試儀,3D表面輪廓儀,掃描電子顯微鏡,原子力顯微鏡以及透明晶圓缺陷掃描儀。

簡介:

透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1可以4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描,對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。

樣品300 x 300 mm。

 

廠商簡介

Lumina Instruments,總部位于美國加利福尼亞州圣何塞,公司創(chuàng)始人在透明、半透明和不透明基板全表面缺陷檢測創(chuàng)新了更快速準(zhǔn)確的方法,因此創(chuàng)建了革命性的儀器品牌lumina.

 

技術(shù)創(chuàng)新

 

 

將樣片放入系統(tǒng)中,3~5分鐘即可完成掃描。

收集的數(shù)據(jù)將被分析,圖像和缺陷圖將由LuminaSoft軟件生成。

感興趣的缺陷可在掃描電子顯微鏡(SEM)、橢偏儀、顯微鏡等上進(jìn)行進(jìn)一步分析。

 

將樣品放入系統(tǒng)

 

 

激光 - 副本.png


直徑為30微米的綠色激光以50毫米的直線運(yùn)動,反射光和散射光由四個(gè)探測器捕獲。

 

四通道檢測

透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1有四個(gè)檢測通道。它們同時(shí)運(yùn)行以生成四個(gè)獨(dú)立的圖像。每個(gè)通道有助于檢測和分類某些缺陷。

極化:薄膜缺陷、污漬

反射率:劃痕、內(nèi)應(yīng)力*、玻璃內(nèi)的條紋*

坡度:劃痕、凹坑、凸起、表面形貌

暗場:納米顆粒、包裹體

 

 

詳情7.png


Lumian AT1和AT1-Auto:AT1采取的樣品的尺寸為300mm,AT1-Auto采取樣品的尺寸為200mm。光斑的大小都在30μm。靈敏度(PSLon玻璃)在150nm;掃描的出結(jié)果的時(shí)間在4/7/15.5min

 

AT1應(yīng)用案例:

應(yīng)用1-玻璃貼膜.png


透明/非透明材質(zhì)表面缺陷的檢測。

 

MOCVD外延生長成膜缺陷管控

PR膜厚均一性評價(jià)

Clean制程清洗效果評價(jià)

Wafer在CMP后表面缺陷分析

多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域,如ARVR、Glass、光掩模版藍(lán)寶石、Si wafel等、

 

 

 




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