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PZ-Mico D 納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

參考價 580000
訂貨量 ≥1
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北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思),始終專注于精密影像測量領(lǐng)域的影像分析及測量軟件的設(shè)計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學(xué)、分析儀器、計量檢測設(shè)備及實驗室儀器系統(tǒng)集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析,圖像分析,缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質(zhì)管理, 計量,過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備,依托強有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務(wù)及全面地解決方案。
   

公司致力于提高工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量品質(zhì)! 迄今為止,品智創(chuàng)思已為多家用戶提供產(chǎn)品檢測設(shè)備,用戶遍布機械、電子、醫(yī)療、軌道交通、汽車、航空、航天、研究所、計量站、等行業(yè),為用戶提供的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供強有力的技術(shù)支持。

品智創(chuàng)思秉承“專注質(zhì)量、誠信服務(wù)、立足創(chuàng)新、真誠合作”的理念,為您提供、多角度的服務(wù)。

北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司愿與您精誠合作,共拓美好未來。

 

 

 

影像測量儀,光學(xué)顯微鏡,測量顯微鏡,試驗機,接觸角測量儀,表面張力儀,超景深顯微鏡,金相顯微鏡,投影測量儀,磨刀機顯微鏡

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車

納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量系統(tǒng)基于白光干涉儀原理、結(jié)合Z向精密壓電掃描模塊和三維重建算法準確獲 得各種精密器件和材料表面形貌數(shù)據(jù),適用于反 射率0.05%-100%、超光滑至粗糙等多種表面測量求,能夠?qū)崿F(xiàn)納米級精度測量、重構(gòu)表面形 貌3D輪廓。


納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量


納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量技術(shù)參數(shù):

型號:PZ-Mico D

測試技術(shù): 3D相干掃描干涉法,抗震算法,移相干涉法

光源:固態(tài)白光光源,軟件控制切換光譜(VSI和PSI)

掃描裝置:精密壓電陶瓷驅(qū)動,閉環(huán)反饋電容控制精密壓電陶瓷

像素分辨率:1280X1024

視場:  10倍范圍1200X950

縱向掃描范圍:25mm

橫向分辨率:0.05-2.68µm

軸向分辨率:VSI:0.5nmPSI:0.1nm

臺階高度精度(示值誤差)±0.1nm(5µm標準臺階)

臺階高度重復(fù)性:0 . 1%1σ(5µm標準臺階

粗糙度 RMS 2

粗糙度RMS重復(fù)性:0.01nm

被測樣品反射率:0.05%-100%

Z軸:電動Z平臺100mm,1μm分辨率)

位移臺:電控平臺移動范圍XY:100x100mm


納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

產(chǎn)品細節(jié)

納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量

應(yīng)用范圍



納米白光干涉儀 表面細微三維形貌測量







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