官方微信|手機版

產品展廳

產品求購企業(yè)資訊會展

發(fā)布詢價單

化工儀器網>產品展廳>測量/計量儀器>長度計量儀器>CNC影像測量儀>PZ-3000S 3D光學輪廓測量儀

分享
舉報 評價

PZ-3000S 3D光學輪廓測量儀

參考價 450000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

聯系方式:劉經理查看聯系方式

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思),始終專注于精密影像測量領域的影像分析及測量軟件的設計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學、分析儀器、計量檢測設備及實驗室儀器系統集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領域用戶提供顯微分析,圖像分析,缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質管理, 計量,過程控制等專業(yè)檢測設備,依托強有力的技術資源及完善專業(yè)的售后服務與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細致的服務及全面地解決方案。
   

公司致力于提高工業(yè)產品的質量品質! 迄今為止,品智創(chuàng)思已為多家用戶提供產品檢測設備,用戶遍布機械、電子、醫(yī)療、軌道交通、汽車、航空、航天、研究所、計量站、等行業(yè),為用戶提供的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供強有力的技術支持。

品智創(chuàng)思秉承“專注質量、誠信服務、立足創(chuàng)新、真誠合作”的理念,為您提供、多角度的服務。

北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司愿與您精誠合作,共拓美好未來。

 

 

 

影像測量儀,光學顯微鏡,測量顯微鏡,試驗機,接觸角測量儀,表面張力儀,超景深顯微鏡,金相顯微鏡,投影測量儀,磨刀機顯微鏡

產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 電子,交通,航天,汽車,電氣

產品概述參數:

3D光學輪廓測量儀產品特點:

使用Sensofar技術的neox光學輪廓儀,其共聚焦部分的主要優(yōu)點是有著*發(fā)光效率的照明硬件和高對比度算法。這些特點使系統成為測量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有異種材料樣品的理想設備。高品質干涉光學系統和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關鍵。這項技術對于測量非常光滑至適度粗糙的表面比較理想。這些技術的組合為neox輪廓儀提供了無限寬廣的應用領域。

3D光學輪廓測量儀


可用于標準的明場彩色顯微成像、共焦成像、三維共焦建模、PSI、VSI及高分辨率薄膜厚度測量。沒有移動部件使其擁有堅固而緊湊的設計,同時也使得該探頭適合很多OEM應用。極其簡單的、符合人體工程學的軟件界面使用戶獲得非??斓臏y量速度,只需方便地切換適當的物鏡,調焦,并選擇適當的采集模式即可。

3D光學輪廓測量儀產品功能:

※共聚焦 (Confocal Profiling) 共聚焦輪廓儀可以測量較光滑或非常粗糙的表面高度。借助消除虛焦部分光線的共焦成像系統,可提供高對比度的圖像。籍由表面的垂直掃描,物鏡的焦點掃過表面上的每一個點,以此找出每個像素位置的對應高度(即共聚焦圖像)。 共聚焦輪廓儀可以由其光學組件實現超高的水平解析度,空間采樣可以減小到0.10μm,這是一些重要尺寸測量的理想選擇。高數值孔徑NA(0.95)和放大倍率(150X和200X)的物鏡可測量斜率超過70°的光滑表面。neox具有*的光效,專有的共聚焦算法可提供納米級的垂直方向重復性。超長工作距離(SLWD)可測量高寬比較大、形狀較陡的樣品。


3D光學輪廓測量儀

※干涉(Interferometry)

● PSI 模式 (PSI Profiling)

相位差干涉儀 (Phase Shift Interferometers)可以亞納米級的分辨率測量非常光滑與和連續(xù)的表面高度。必須準確對焦在樣品上,并進行多步垂直掃描,步長是波長的準確的分數。PSI算法借助適當的程序將表面相位圖轉換為樣品高度分布圖。

PSI模式可在所有的數值孔徑(NA)下提供亞納米級的垂直分辨率。放大倍率較小時(2.5X)可以測量較大視場范圍,并具有同樣的垂直分辨率。但是光波相干長度使其測量范圍限制在微米級。PSI算法使neox 得到納米尺度的形態(tài)特征,并以亞納米尺度對超平滑的表面紋理參數作出評估。

● VSI 模式 (VSI Profiling)

白光干涉儀 (White-Light Vertical Scanning Interferometers)可用于測量光滑表面或適度粗糙表面的高度。當樣品表面各個點處于好佳焦點位置時可得到好大干涉條紋對比度。多步垂直掃描樣品,表面上的每一個點會通過對焦點,通過檢測干涉條紋峰值得到各像素位置的高度。

VSI模式可在所有的數值孔徑(NA)下提供納米級垂直分辨率。VSI算法使neox在各放大倍率下得到具有相同垂直分辨率的形態(tài)特征。其測量范圍在理論上是無限的,盡管在實踐中其將受限于物鏡實際工作距離。掃描速度和數據采集速率可以非??欤斎贿@會導致一定程度垂直分辨率損失。

3D光學輪廓測量儀

※薄膜測量 (Thin Film)

光譜反射法是薄膜測量的方法之一,因為它準確、無損、迅速且無需制備樣品。測量時,白光照射到樣品表面,并將在膜層中的不同界面反射,并發(fā)生干涉和疊加效應。結果,反射光強度將顯示出波長變化,這種變化取決于薄膜結構不同層面的厚度和折射率。軟件將測得的真實光譜同模擬光譜進行比較擬合,并不斷優(yōu)化厚度值,直到實現好佳匹配。

Neox也可用作高分辨率的薄膜測量系統,它適用于單層箔,膜或基板上的單層薄膜,而且還可以處理更復雜結構(好高可至基板上10層薄膜)??稍谝幻雰葴y量從10nm到20μm的透明薄膜,厚度分辨率0.1 nm,橫向分辨率達5μm。

3D光學輪廓測量儀


特點:

※ 微顯示共聚焦掃描    目前的共聚焦顯微鏡都使用有著可移動機械裝置的鏡面掃描頭,這會限制其使用壽命,并且在高倍率時降低像素抖動優(yōu)化效果。對于共焦掃描,neox使用基于微型顯示器的Sensofar技術。該微型顯示器基于鐵電液晶硅(FLCoS),一種沒有運動部件的快速切換裝置,使共焦圖像的掃描更快速、穩(wěn)定并擁有無限的壽命。

※ 彩色CCD攝像頭Neox使用一個高速高分辨率的黑白CCD攝像頭為系統計量探頭。另一個彩色攝像頭可用于明場表面觀察。這樣使得它很容易找出所分析樣品的特點。此外,地貌測量功能可得到全聚焦彩色圖像。該系統在垂直掃描過程中記錄圖像合焦位置像素,并和其Z軸位置匹配從而得到全聚焦彩色圖像,并以此來創(chuàng)建出色的三維模型。

※ 物鏡Neox使用*的CFI60 Nikon物鏡,在各NA時都有好大的工作距離??蛇x用的物鏡超過50種,每一款都可對應某種特別應用:可用于共聚焦成像和建模的較高NA,倍率范圍2.5X至200X,超長工作距離,特長工作距離及浸水物鏡;帶調焦環(huán)的物鏡可在好厚2mm范圍的透明介質對焦;2.5X至100X帶參考鏡校正及頂端傾斜的物鏡。

※ 雙垂直掃描器雙垂直掃描器包括一個電動平臺和壓電掃描器,以獲得好高的掃描范圍和好高的測量精度及重復精度。高定位精度的線性平臺行程40mm,好小步進可達10nm,用于共聚焦掃描非常理想。集成的壓電掃描器好高掃描范圍200μm,壓電電阻傳感器高定位分辨率0.2nm,全行程精度1nm?,F有的其它掃描平臺使用光學編碼器,精度僅30nm且不確定,限制了系統的準確度和重復性。結合線性平臺和壓電掃描器的*設計,使Neox在0.1納米至幾毫米測量范圍內擁有業(yè)界好高的精度,線性和重復性。

※ 集成反射光譜儀共聚焦及干擾法測量薄膜厚度的實際限制約為1μm單層膜。Neox集成了一個反射光譜儀,通過光纖進行薄膜的測量,厚度范圍在10nm,好高可達10層膜。該光纖通過顯微目鏡成像,因此,薄膜測量點尺寸好小可達5微米。測量使用集成的LED光源,可提供樣品以及薄膜測量的實時明場影像。

※ 雙LED照明光源內置了兩個高功率LED,其中白光LED用于彩色明場觀察,薄膜測量,VSI和ePSI。另一個藍光LED用于高分辨率共聚焦影像和PSI。藍光LED較短的波長可有效提升水平分辨率至0.15μm(L&S),并改善PSI噪聲為0.01nm垂直分辨率。

※ 高速度 (12.5 fps 共聚焦幀速率)基于FLCoS微型顯示器的高速轉換速度和*的快速共聚焦算法,本設備可達到12.5幀/秒的共聚焦圖像幀率,垂直3D掃描達到8層/秒,這意味著3D共焦測量掃描速度范圍為0.5至350μm/s。干涉掃描速度為50 fps,即垂直掃描速度高達800μm/s。一次典型的測量時長,其中包括掃描后的運算,通常小于5秒。

 

3D光學輪廓測量儀


光譜反射法是薄膜測量的方法之一,因為它準確、無損、迅速且無需制備樣品。測量時,白光照射到樣品表面,并將在膜層中的不同界面反射,并發(fā)生干涉和疊加效應。結果,反射光強度將顯示出波長變化,這種變化取決于薄膜結構不同層面的厚度和折射率。軟件將測得的真實光譜同模擬光譜進行比較擬合,并不斷優(yōu)化厚度值,直到實現好佳匹配。

Neox也可用作高分辨率的薄膜測量系統,它適用于單層箔,膜或基板上的單層薄膜,而且還可以處理更復雜結構(好高可至基板上10層薄膜)。可在一秒內測量從10nm到20μm的透明薄膜,厚度分辨率0.1 nm,橫向分辨率達5μm。



化工儀器網

采購商登錄
記住賬號    找回密碼
沒有賬號?免費注冊

提示

×

*您想獲取產品的資料:

以上可多選,勾選其他,可自行輸入要求

個人信息:

溫馨提示

該企業(yè)已關閉在線交流功能