SENTECH SER 800 PV 光譜橢偏儀

1. 產(chǎn)品概述

SENTECH SER 800 PV光譜橢偏儀符合PERC、TOPCON、HJT和鈣鈦礦技術(shù)等新型太陽(yáng)能電池技術(shù)的研發(fā)要求。它操作簡(jiǎn)單，具有高測(cè)量靈敏度、去偏振校正和特殊的聚光光學(xué)元件，使其成為在粗糙樣品表面上進(jìn)行光伏應(yīng)用的理想工具。

2. 主要功能與優(yōu)勢(shì)

紋理化硅片

抗反射涂層和鈍化層可以在紋理單晶硅片和多晶硅片上測(cè)量。

多層增透膜

SiO2?涂層/?SiNx, Al2O3?/?SiNx, and SiNx1?/?SiNx2, poly-Si, aSi / ITO,都可以分析。

操作簡(jiǎn)單

SENTECH SER 800 PV 光譜橢偏儀為家和初學(xué)者都提供了簡(jiǎn)單的操作。配方模式特別適用于質(zhì)量控制中所需的常規(guī)應(yīng)用。

3. 光伏研發(fā)的靈活性

SENTECH SER 800 PV 是分析紋理晶體和多晶硅太陽(yáng)能電池上抗反射涂層和功能層的理想工具。單片薄膜（SiNx, SiO2, TiO2, Al2O3, ITO, aSi, 多晶硅和鈣鈦礦）和多層堆疊物（(SiNX?/?SiO2, SiNx1?/?SiNx2, SiNx?/?Al2O3, …)可以測(cè)量。

該工具基于步進(jìn)掃描分析儀測(cè)量模式。步進(jìn)掃描分析儀模式允許將測(cè)量參數(shù)與粗糙的樣品表面相匹配，而所有光學(xué)部件都處于靜止?fàn)顟B(tài)。SENTECH SER 800 PV 的光源、光學(xué)元件和檢測(cè)器經(jīng)過(guò)優(yōu)化，可快速準(zhǔn)確地測(cè)量光伏應(yīng)用中的折射率、吸收和薄膜厚度。此外，該工具還滿足 SENresearch 光譜橢偏儀系列的所有要求。

SpectraRay/4 是 SENTECH 有的橢偏儀軟件，用于 SENTECH SER 800 PV，包括兩種操作模式。配方模式允許輕松執(zhí)行質(zhì)量控制中的常規(guī)應(yīng)用。帶有指導(dǎo)性圖形用戶界面的交互模式適用于研發(fā)應(yīng)用和新配方的開(kāi)發(fā)。