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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>常用儀表>光學(xué)儀表>干涉儀>KIF-202L(KIF-202L) 小型激光干涉儀

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KIF-202L(KIF-202L) 小型激光干涉儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測(cè)技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會(huì)社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學(xué)顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國(guó)UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識(shí)別和檢驗(yàn)、無損探查、品質(zhì)管理、計(jì)量,過程控制等專業(yè)檢測(cè)設(shè)備,依托強(qiáng)有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細(xì)致的服務(wù)及全面地解決方案 。
服務(wù)對(duì)象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質(zhì),石油石化等材料研究行業(yè),機(jī)械及微機(jī)械領(lǐng)域,以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導(dǎo)體、液晶及MEMS,NANO等諸多領(lǐng)域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
我們的技術(shù):可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測(cè)技術(shù)、全自動(dòng)顯微觀察及測(cè)量、數(shù)字圖象處理和識(shí)別,自動(dòng)控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation技術(shù) Technology;集成 Integration;服務(wù) Service的理念,
堅(jiān)持專業(yè)周到細(xì)致的服務(wù),不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價(jià)值和公司價(jià)值,成為工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

小型·操作簡(jiǎn)便
  充分考慮作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)內(nèi)的使用環(huán)境,占地空間小,方便操作。

可測(cè)量倍率(1×、2.5×)
  測(cè)定倍率擴(kuò)大到2.5×,可簡(jiǎn)單測(cè)量小件物體。與Φ60-Φ15(可選件)的孔徑轉(zhuǎn)換器組合匹配使用的話,可zui大擴(kuò)大10倍。(平面測(cè)定時(shí))

參照鏡片λ/20 高精度
  因?yàn)楸旧缂庸ぜ夹g(shù),參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據(jù)客戶選擇的需要,也可提供λ/30 的產(chǎn)品。

豐富的附屬備件群
  我社準(zhǔn)備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置(KIF-FSPC/FS2000),可進(jìn)行高精度條紋解析。

主要用途:
· 鏡片研磨面的面精度的測(cè)定。
· 塑料成型件的面精度的測(cè)定。
· 各種金屬切削面的面精度的測(cè)定。 

規(guī)格:  

測(cè)定方法 斐佐型干涉方式
口徑 Φ60(使用可選件為Φ6-Φ102)mm
被檢物大小 Φ6-Φ102(平面測(cè)定時(shí))mm
倍率 1×、2.5×(本體2 段切換)
4×、10×(使用Φ60-Φ15的孔徑轉(zhuǎn)換器時(shí))
參照面精度 λ/20(球面以及平面)
光源 He-Ne(632.8nm)激光
電源 AC100V 50/60Hz
本體外形尺寸 220(W)×360(D)×740(H)mm
本體重量 約33kg
標(biāo)準(zhǔn)附屬品 9型TV顯示器、5軸調(diào)整受臺(tái)
* 特殊定單,我社可對(duì)應(yīng)15Omm沖程延長(zhǎng)樣式。
各參照鏡可測(cè)量范圍(表示KIF-202L標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式時(shí)的可測(cè)定范圍) 
參照鏡                檢查可能曲率半徑                              檢查可能zui大口徑                             
FNO zui終 R R/D
0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 24.6 200
0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 34.6 200
1.0 45.5 1.02 2~45 3~283 44.1 200
1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 49.7 166.2
2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 52.5 110
3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 54.3 53
6.0 347.6 6.0 16~347 - 57.8 -
※凹面?zhèn)鹊臏y(cè)定可能曲率半徑將會(huì)根據(jù)定盤的大小、干涉儀的設(shè)置方向(縱橫)等機(jī)械的尺寸、以及線性卡尺、解析裝置的安裝而不同。
●如必須測(cè)定曲率半徑在R2以下的場(chǎng)合,我社可以提供更加適合的規(guī)格,請(qǐng)與我社。
各標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格參照鏡的可測(cè)定范圍
KIF-202L (標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)樣式時(shí)的測(cè)定可能范圍(mm) 
參照鏡     KIF-202L(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式)
型號(hào) zui終R R/D 測(cè)定可能曲率半徑       測(cè)定可能zui大口徑      
      干擾條紋掃描機(jī)組無                    干擾條紋掃描機(jī)組有                  干擾條紋掃描機(jī)組無                    干擾條紋掃描機(jī)組有                   
      凸 
F0.6 16.8 0.65 1~16 1~295 1~16 1~205 24.6 200 24.6 200
F0.7 26.2 0.75 2~26 2~298 2~26 2~208 34.6 200 34.6 200
F1.0 45.5 1.02 2~45 2~283 2~45 2~193 44.1 200 44.1 189.2
F1.5 75.2 1.51 2~75 2~251 2~75 2~161 49.7 166.2 49.7 106.6
F2.0 105.0 2.0 2~105 2~220 2~105 2~130 52.5 110 52.5 65
F3.0 163.8 3.0 2~163 2~159 2~163 2~69 54.3 53 54.3 23
F6.0 347.6 6.0 16~347 - 106~347 - 57.8 - 57.8 -

表示被檢物的厚度為零時(shí)的數(shù)值。
各特別規(guī)格參照鏡的測(cè)定可能范圍(受注生產(chǎn)品)
*本社準(zhǔn)備了2 英寸的特別規(guī)格參照鏡,可用于較大曲率半徑的測(cè)定。
*凹鏡片測(cè)定用(發(fā)散型)樣式有4 種,凸鏡片測(cè)定用(集光型)樣式有3 種??晒┠S意選擇。
KIF-202L (標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)樣式時(shí)的測(cè)定可能范圍(mm) 

特別規(guī)格參照鏡     KIF-202L(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式)
型號(hào) zui終R     R/D     測(cè)定可能曲率半徑       測(cè)定可能zui大口徑                                       
      干擾條紋掃描機(jī)組無   干擾條紋掃描機(jī)組有   干擾條紋掃描機(jī)組無   干擾條紋掃描機(jī)組有  
      凸      
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~464 - 160~370 - 200 - 191.7
RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~626 - 310~530 - 135.4 - 114.7
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~715 - 400~620 - 118.5 - 102.8
RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~806 - 495~711 - 106.8 - 94.2
RS60-V520 519.1 8.85 193~509 - 290~509 - 57.5 - 57.5 -
RS60-V670 664.1 11.56 338~654 - 433~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 426~740 - 521~740 - 56.5 - 56.5 -

表示被檢物的厚度為零時(shí)的數(shù)值。
KIF-202LL(長(zhǎng)距離:150mm沖程延長(zhǎng)規(guī)格)樣式時(shí)的測(cè)定可能范圍(mm) 

特別規(guī)格參照鏡     KIF-202LL(長(zhǎng)距離:150mm 沖程延長(zhǎng)規(guī)格)樣式
型號(hào) zui終R R/D 測(cè)定可能曲率半徑       測(cè)定可能zui大口徑      
      干擾條紋掃描機(jī)組無   干擾條紋掃描機(jī)組有   干擾條紋掃描機(jī)組無   干擾條紋掃描機(jī)組有  
      凸      
RS60-C150 -150.3 1.93 - 160~614 - 160~520 - 200 - 200
RS60-C300 -300.1 4.62 - 310~776 - 310~680 - 167.9 - 147.1
RS60-C390 -389.3 6.03 - 400~865 - 400~770 - 143.4 - 127.6
RS60-C490 -482.9 7.54 - 495~956 - 495~861 - 126.7 - 114.1
RS60-V520 519.1 8.85 43~509 - 140~509 - 57.5 - 57.5 -
RS60-V670 664.1 11.56 188~654 - 283~654 - 56.5 - 56.5 -
RS60-V750 750.3 13.08 276~740 - 371~740 - 56.5 - 56.5 -

表示被檢物的厚度為零時(shí)的數(shù)值。
注明:測(cè)定可能zui大曲率半徑以及測(cè)定可能zui大口徑,將會(huì)根據(jù)干涉儀的受臺(tái)夾具等機(jī)械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結(jié)底因?yàn)槟恳?,故不能保證。



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