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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀> KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀

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KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀

參考價50000-999999/臺
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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FIRSTNANO成立于2012年,一家由三位材料學(xué)博士共同創(chuàng)辦的德國公司?;?/span> Science is international”的想法,“全球協(xié)同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學(xué)家到科學(xué)家,科學(xué)開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導(dǎo)體技術(shù)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等科研領(lǐng)域,始終秉承“前沿、專業(yè)、科學(xué)”的宗旨,將前沿技術(shù)引進到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程;材料科學(xué)的檢測、分析;生命科學(xué)成像,腦科學(xué)與行為認(rèn)知等相關(guān)領(lǐng)域。作為全球科技前沿的儀器供應(yīng)商,FIRSTNANO具有全球技術(shù)視野、優(yōu)質(zhì)供應(yīng)體系、以及嚴(yán)格的質(zhì)量管控系統(tǒng),能為客戶提供前沿的技術(shù)解決方案。

公司服務(wù)的客戶領(lǐng)域廣泛,其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術(shù)、半導(dǎo)體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機構(gòu)。

在成長的過程中,我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港(中華區(qū))公司成立以來,我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設(shè)立了分支機構(gòu)。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM,一起為夢想揚帆起航!

 

 

 

 

半導(dǎo)體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 50萬-100萬
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,電氣,綜合

走在前端 以較低的價格

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品,包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, 僅需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴(yán)格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范范圍最大, 最小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn).

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀


容易設(shè)定. 易於維護

只需將KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準(zhǔn),你不需擔(dān)心維護問題。

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀


獲得精確的測量.

  • 自動基準(zhǔn)功能大大增加基準(zhǔn)間隔時間, 量測準(zhǔn)確性優(yōu)於其他光纖探頭反射測量系統(tǒng)5倍

    可選擇UPG - F10-AR - HC軟件升級測量0.25-15μm硬涂層的厚度. 即使在防反射涂層存在時仍可測量硬涂層厚度

  • 我們探頭設(shè)計可排除98%背面反射,當(dāng)鏡片比1.5mm 更厚時, 可排除比例更高

修正了硬膜層造成的局部反射扭曲現(xiàn)象



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