儀景通光學科技（上海）有限公司
用于在礦產(chǎn)勘探和礦體定向應用中探測金元素和金探途元素的便攜式XRF分析儀
檢測樣品：礦體
檢測項目：金元素 金探途元素
方案概述：奧林巴斯的X射線熒光（XRF）分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學數(shù)據(jù)，從而有助于用戶快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。隨著XRF技術的發(fā)展，增加了可測元素的數(shù)量，改進了檢出限，并降低了檢測時間。VantaXRF分析儀在金礦上和金礦實驗室中，可以快速方便地測量與黃金勘探相關的很多種類的樣本，而且還可以對精煉黃金產(chǎn)品進行快速準確的分析。
- 通過對土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進行XRF分析，可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的金元素礦化的情況。
- 使用XRF分析儀對樣本進行預先篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經(jīng)費，以及更準確地確定鉆井的區(qū)域。
- 通過XRF技術繪制結構特性的映射圖，并識別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶更好地了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得更好的金采收量。
- 在巖石地球化學應用中使用XRF技術，可以迅速、經(jīng)濟地為巖石進行分類。
| 礦床類型 | 地球化學特征 |
| 造山金礦 | S、As、CO2、K+/– Sb、Te、Mo、W、Cu、Pb、Zn、Hg |
| 高硫化淺成熱液 | Ag、Cu、Te、Mo、Bi、Sn |
| 低硫化淺成熱液 | Zn、Hg、Se、K、As、Sb、Ag/Au |
| 卡林型 | As、Sb、Hg、Tl |
| 斑巖型銅-金礦 | Cu、Pb、Zn、Ag |
| 含金矽卡巖 | Bi、Te、As、Co |
| 侵入型相關金礦 | Bi、W、As、Sb、Mo、Te |
| 火山成因塊狀硫化物礦床（VHMS） | Cu、Pb、Zn、Ag、Ba、K、Mg +/–CO2 |
| 鐵氧化物銅-金礦（U） | F、P、Co、Ni、As、Mo、Ag、Ba、U、LREE |
| 表生金礦 | 高成色金礦 +/– 以上任何元素 |
金礦床的相關地球化學特征
資料來源：Reflex Geochemistry
探途元素和蝕變地球化學
大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學特征（如上表所示）。XRF分析儀可以探測到這些地球化學特征，從而可使地質(zhì)學家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常見金探途元素的典型XRF檢出限（Vanta VMR型號地球化學模式）
| 元素 | 檢出限（ppm）* | 元素 | 檢出限（ppm）* |
| As | 1 | W | １ |
| Cu | ２ | Bi | 2 |
| Pb | ２ | Sb | 2 |
| Zn | 1 | Ag | ２ |
*每個光束120秒的檢測時間，無干擾的二氧化硅基質(zhì)；請參閱奧林巴斯有關檢出限的文件，了解有關更低檢出限的詳細探討說明。
用于探測金元素的XRF分析儀
*，手持式XRF分析儀不能對地質(zhì)樣本中低含量的金元素進行直接檢測（如：低ppm和ppb值）?；趯嶒炇业幕鹪嚱鸱ū黄毡檎J為是分析金元素的優(yōu)先方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯誤的金元素存在的判斷。
不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析儀對金元素進行直接檢測。
金礦上越來越多的實驗室正在使用XRF技術替代或補充火試金法，對礦石進行分析。請參閱奧林巴斯應用注釋“在金礦實驗室中使用手持式XRF分析儀”。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測活性炭中的金元素。請參閱奧林巴斯應用注釋“檢測活性炭中的金元素”。
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圖像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中對來自便攜式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢和局限性，地球化學：勘探，環(huán)境，分析。
來自加拿大的金元素勘探項目，XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線圖對比ICP分析。
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