岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司

  • 化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):CI8
    LODAS™ – CI8是列真株式會(huì)社推出的一款化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
    型號(hào): CI8 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    化合物半導(dǎo)體SiC、GaN檢查裝置
    2024/11/9 14:57:433622
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)是表面缺陷檢測的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品,系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù):晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
    型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測
    2024/12/18 13:38:331319
  • iFocus晶圓檢測系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設(shè)備,利用STI的2D/3D視覺檢測系統(tǒng),采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷;True 3D技術(shù),...
    型號(hào): 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI
    2024/11/9 15:34:221613
  • FPD Photomask缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    FPD Photomask缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:02:361443
  • GlassWafe缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – BI12
    LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    GlassWafe缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:00:061306
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – BI8
    LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:56:081523
  • Photomask Blanks缺陷檢查裝置 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):LODAS™ – AI50/100
    LODAS™ – AI50/100是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
    型號(hào): LODAS&tra... 品牌:LAZIN所在地:上海市 對(duì)比
    Photomask Blanks缺陷檢查裝置
    2024/11/9 14:54:301640
  • 微流控缺陷檢測 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec Macro
    微流控缺陷檢測 Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面,或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。 明場,暗場,正交和可配置的傾斜照明角度與...
    型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    微流控缺陷檢測
    2024/11/9 14:22:118231
  • 晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng) 參考價(jià): 面議

    參考價(jià): 面議 型號(hào):Nanotronics nSpec LS
    Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過程開發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且,隨...
    型號(hào): Nanotroni... 品牌:其他品牌所在地:上海市 對(duì)比
    晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測
    2024/11/9 14:14:143817

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