岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

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  • UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
    2024/11/26 17:22:251306

  • UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測(cè)，包括TTV，Bow，Warp，TIR等參數(shù)，可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測(cè)，精度達(dá)國際水平...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    測(cè)量關(guān)鍵尺寸前道TTV
    2024/11/9 16:08:531042

  • UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 16:06:291143
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