邁可諾技術(shù)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 美國(guó)Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī)

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勻膠機(jī)/勻膠旋涂?jī)x

濕法刻蝕顯影清洗系統(tǒng)

掩膜曝光光刻機(jī)

狹縫涂布儀

烤膠機(jī)/熱板

快速退火爐

納米壓印光刻機(jī)

紫外固化機(jī)/紫外固化箱

紫外臭氧清洗機(jī)

等離子清洗機(jī)

超聲波清洗機(jī)

等離子去膠機(jī)

原子層沉積系統(tǒng)

光學(xué)膜厚儀

探針臺(tái)

壓片機(jī)/液壓機(jī)

制樣機(jī)

接觸角測(cè)角儀

手持式表面分析儀

干冰清洗機(jī)

顯微鏡檢測(cè)系統(tǒng)

程序剪切儀

韓國(guó)波導(dǎo)樹(shù)脂

環(huán)氧樹(shù)脂

光學(xué)試劑

鈣鈦礦材料

光刻膠

  • 碳紙
  • 防潮箱

    馬弗爐

    培養(yǎng)箱

    蠕動(dòng)泵

    熱循環(huán)儀

    離心機(jī)

    手套箱

    天平

    鍵合機(jī)

    紫外交聯(lián)儀

    膜厚監(jiān)測(cè)儀

    離子濺射儀

    攪拌脫泡機(jī)

    橢偏儀

    自動(dòng)涂膜器

    分光光度計(jì)

    點(diǎn)膠機(jī)

    噴涂機(jī)

    晶圓片

    密度測(cè)試儀

    臨界點(diǎn)干燥儀

    光譜儀

    太陽(yáng)光模擬器

    干燥機(jī)

    Norland膠水

    真空回流焊爐

    過(guò)濾器

    切割機(jī)

    電鏡耗材

    Alconox清潔劑

    有機(jī)光伏材料

    鈣鈦礦界面材料

    Rondol擠壓機(jī)

    切割設(shè)備

    超聲波細(xì)胞粉碎機(jī)

    低溫水循環(huán)

    水浴油浴

    蒸發(fā)器

    凍干機(jī)

    剝離器

    紫外掩膜曝光系統(tǒng)

    涂布機(jī)

    恒電位儀

    源測(cè)量單元

    太陽(yáng)能電池IV測(cè)試系統(tǒng)

    太陽(yáng)模擬器

    LED測(cè)量系統(tǒng)

    顯微鏡

    干燥箱

    霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

    芯片熱管理分析系統(tǒng)

    公司信息

    聯(lián)人:
    葉盛
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    [供應(yīng)]A4P系列-A4P四點(diǎn)探針自動(dòng)電阻率測(cè)繪系統(tǒng)
    A4P系列-A4P四點(diǎn)探針自動(dòng)電阻率測(cè)繪系統(tǒng)
    貨物所在地:
    北京北京市
    更新時(shí)間:
    2024-12-17 09:03:21
    有效期:
    2024年12月17日--2025年6月19日
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    【簡(jiǎn)單介紹】A4P四點(diǎn)探針自動(dòng)電阻率測(cè)繪系統(tǒng)

    A4P系列晶圓電阻率映射器使用經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可以快速,準(zhǔn)確,可靠地測(cè)量樣品電阻率分布。MicroXact的四點(diǎn)探針通過(guò)使電流通過(guò)四點(diǎn)探頭的外部點(diǎn)并測(cè)量?jī)?nèi)部點(diǎn)的電壓來(lái)測(cè)量半導(dǎo)體晶圓層的平均電阻。然后可以通過(guò)將薄層電阻乘以薄膜的厚度來(lái)找到電阻率的值,即賦予其電阻的材料的性質(zhì)。
    【詳細(xì)說(shuō)明】

    A4P四點(diǎn)探頭采用100mm,150mm200mm300mm系統(tǒng),無(wú)需維護(hù)且易于使用。該系統(tǒng)有多種選擇,包括寬范圍熱測(cè)試,非標(biāo)準(zhǔn)材料的定制卡盤(pán)和幾乎適用于任何應(yīng)用的4點(diǎn)探針。

    電阻率測(cè)量自動(dòng)化軟件

    A4P-200-PLUS自動(dòng)化軟件允許使用電阻率測(cè)繪系統(tǒng)進(jìn)行半自動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)試。該接口設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單但功能強(qiáng)大,允許用戶(hù)輕松設(shè)置幾乎任何類(lèi)型晶圓結(jié)構(gòu)的自動(dòng)測(cè)試程序?;?/span>LabView的軟件采用邏輯結(jié)構(gòu),可輕松集成客戶(hù)自己的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備。該軟件可以安裝在任何裝有Windows XP或更高版本操作系統(tǒng)的PC上。

    A4P四點(diǎn)探頭功能

    系統(tǒng)提供快速,準(zhǔn)確的測(cè)量并且非常用戶(hù)友好。

    直觀的基于LabView的開(kāi)源軟件提供各種數(shù)據(jù)處理選項(xiàng)以及結(jié)果的二維和三維映射。

    可以表征的各種材料和結(jié)構(gòu)。

    寬電阻率測(cè)量和薄層電阻范圍。

    溫度范圍:從低于-60°C到超過(guò)300°C。

    可選擇1種,5種,9種,25種,49種或121種測(cè)量模式以及自定義電阻率測(cè)量模式。

    可調(diào)式真空吸盤(pán)適用于5mm300mm的樣品尺寸。

    ASTM,SEMI或簡(jiǎn)單輸出的快速測(cè)量模式。

    點(diǎn)擊或點(diǎn)擊或直接坐標(biāo)輸入晶圓導(dǎo)航。

    Jandel探頭兼容。

    該系統(tǒng)的真空或受控環(huán)境版本可用于擴(kuò)展溫度測(cè)試的電阻率測(cè)試。

     

    自動(dòng)化軟件功能

    在大多數(shù)情況下,所有自動(dòng)化,測(cè)量和數(shù)據(jù)采集都可以通過(guò)在簡(jiǎn)單的筆記本電腦上運(yùn)行的軟件包進(jìn)行管理。

    不需要昂貴的硬件。

    軟件允許用戶(hù)生成測(cè)量圖案圖。

    軟件允許用戶(hù)生成結(jié)果的2D3D地圖。

    軟件輸出電阻和電阻率或厚度測(cè)量值。

    軟件輸出電阻和電阻率或厚度測(cè)量值。

    軟件內(nèi)置了熱卡盤(pán)的*控制,允許復(fù)雜且高度可定制的測(cè)試序列。

    該軟件是開(kāi)源的,客戶(hù)可以對(duì)其進(jìn)行定制以滿(mǎn)足任何特定需求。

    MicroXact團(tuán)隊(duì)與客戶(hù)一起努力,盡快開(kāi)發(fā)出的自動(dòng)化解決方案。

     

    A4P 4點(diǎn)探頭規(guī)格

    A4P-200-TC

    以下規(guī)格適用于標(biāo)準(zhǔn)配置。在大多數(shù)情況下,每個(gè)A4P 4點(diǎn)探針系統(tǒng)都可以定制,以超過(guò)這些值。

    晶圓尺寸                 高達(dá)300mm

    真空吸盤(pán)                  多區(qū)真空

    兼容的探頭                Jandel探頭

    饋通終端                  BNCTriax或香蕉插頭

    自動(dòng)化軟件                基于LabView,與Windows兼容



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