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邁可諾技術(shù)有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
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主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī) |
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SM120 立式反射率測試儀
在太陽能電池制造領(lǐng)域，獲得太陽能硅片的反射率對生產(chǎn)的控制及研究有著極其重要的意義，但由于絨面的特殊表面，使得測量其反射率變得十分困難。
我們根據(jù)ISO7724和DIN5033標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合多年光譜儀器研發(fā)經(jīng)驗(yàn)全新推出全自動八度角積分式反射儀SM120正是針對這一問題的解決方案，SM120立式反射率測試儀應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。
1.產(chǎn)品特點(diǎn)：
·全自動電腦控制，自動校準(zhǔn)，快速準(zhǔn)確測量;
·支持全自動二維掃描(Mapping);
·自動計(jì)算多點(diǎn)平均反射率;
·超長壽命光源;
·結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，操作簡單，維護(hù)方便;
·保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行而無需經(jīng)常校準(zhǔn)。
2.應(yīng)用領(lǐng)域：
·半導(dǎo)體鍍膜 ·光學(xué)鍍膜 ·液晶顯示
·微電子系統(tǒng) ·生物醫(yī)學(xué)
3. 選型與規(guī)格參數(shù)：
光學(xué)膜厚儀通過測量薄膜的光學(xué)性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線穿過薄膜時(shí)，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計(jì)算出薄膜的厚度。
光學(xué)膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強(qiáng)度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學(xué)鍍膜、涂層、光學(xué)薄膜等。通過光學(xué)膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、材料等領(lǐng)域。
