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電鏡SEM高分辨率檢測標樣

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海德創(chuàng)業(yè)（北京）生物科技有限公司
2017-05-12 17:22:56
北京市
965

具體成交價以合同協(xié)議為準

【簡單介紹】

電鏡SEM高分辨率檢測標樣圖象的分辨率是掃描電鏡的Z重要技術指標，它反映儀器的綜合性能。只有綜合性能良好的儀器才能獲得具有Z小球差、色差、畸變及象散的高分辨圖象

【詳細說明】

電鏡SEM高分辨率檢測標樣

圖象的分辨率是掃描電鏡的zui重要技術指標，它反映儀器的綜合性能。只有綜合性能良好的儀器才能獲得具有zui小球差、色差、畸變及象散的高分辨圖象。掃描電鏡的分辨率一般由可以檢測到的zui小間距和圖象的灰度共同決定。

電鏡SEM高分辨率檢測標樣，又稱碳基金標樣，將金原子鍍膜在厚度約2mm的基質上，在中高度分辨率測試中，不同大小的金粒子（<2nm-30nm）會產(chǎn)生不同的間隙。本品可用于像散校正和分辨率檢測，推薦用于放大率在50000×及以上的儀器。

訂購信息：

貨號	產(chǎn)品名稱	規(guī)格
79511-01	Very High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub	個
79511-02	Very High Resolution Au-C Test on JEOL Stub	個
79511-03	Very High Resolution Au-C Test on ISI Stub	個
79511-04	Very High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub	個
79511-05	Very High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet	個

另：金粒子的大小<1nm-20nm的碳基金標樣，又稱SEM超高分辨率檢測標樣，推薦用于80000×及以上的儀器。

訂購信息：

貨號	產(chǎn)品名稱	規(guī)格
79512-01	Ultra High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub	個
79512-02	Ultra High Resolution Au-C Test on JEOL Stub	個
79512-03	Ultra High Resolution Au-C Test on ISI Stub	個
79512-04	Ultra High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub	個
79512-04	Ultra High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet	個


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