支持數(shù)據(jù)驅(qū)動開發(fā)的兩款FE-SEM隆重上市

強化自動獲取大量數(shù)據(jù)功能，實現(xiàn)高效率觀察

【場發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600（左）SU8700（右）】

日立高新技術(shù)公司（以下簡稱日立高新技術(shù)）此次推出兩款FE-SEM^*1“SU8600”和“SU8700”（以下簡稱此系列產(chǎn)品），這兩種型號配置自動獲取大量數(shù)據(jù)的功能。FE-SEM是用于觀察、測量和分析樣品細微結(jié)構(gòu)的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，因此被廣泛用于半導(dǎo)體、生命科學(xué)和材料研發(fā)等領(lǐng)域。未來，數(shù)據(jù)驅(qū)動開發(fā)的進步需要龐大的數(shù)據(jù)支撐，為此，日立高新技術(shù)特推出此系列產(chǎn)品，支持短時間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù)，減輕用戶的負擔(dān)。

*1. FE-SEM：Field Emission Scanning Electron Microscope （場發(fā)射掃描電子顯微鏡）

■SU8600、SU8700的開發(fā)背景

FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)域。近年來，以Materials Integration^*2為代表，其應(yīng)用領(lǐng)域及用途在不斷擴展，短時間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù)，減輕作業(yè)負荷成為市場的一大需求。為滿足這一需求，此次特推出SU8600和SU8700，這兩種型號是在日立不斷改進與沉淀的具有高分辨性能的FE-SEM基礎(chǔ)上，進一步優(yōu)化了自動化功能，以快速獲取大量數(shù)據(jù)。

*2. Materials Integration：是一項綜合性材料研發(fā)技術(shù)，以縮短材料研發(fā)周期為目的，整合運用了理論/實驗/數(shù)據(jù)分析/模擬/數(shù)據(jù)庫。

■SU8600、SU8700的特點

在細微結(jié)構(gòu)分析中，SU8600可以實現(xiàn)低加速電壓觀察，對高分子等易受電子束照射影響的材料進行高分辨觀察。SU8700可配置各種分析附件，適用于從低加速觀察到高束流的EBSD^*3分析，支持陶瓷、金屬等不同材料的解析。

　此系列產(chǎn)品主要具有以下三大特點。

1．支持自動獲取數(shù)據(jù)

在FE-SEM的觀察和分析中，需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)致的差異。

此外，隨著儀器性能的提升，需要獲取的數(shù)據(jù)種類與數(shù)量也在增加，手動獲取各種大量數(shù)據(jù)會大大增加用戶的作業(yè)負擔(dān)。此系列產(chǎn)品可選配“EM Flow Creator”，用戶可根據(jù)自身需求設(shè)定條件，自動獲取數(shù)據(jù)，這對于未來通過獲取大量數(shù)據(jù)實現(xiàn)數(shù)據(jù)驅(qū)動開發(fā)起到重要作用。

2．增加獲取信息的種類與數(shù)量

通過SEM能夠收集到多種信號，且此系列產(chǎn)品最多可以同時顯示和存儲6個檢測器的信號。在減少圖像獲取次數(shù)的同時能夠獲取多種信息。

此外，為一次性獲取大量信息，最大像素擴展到了40,960 x 30,720^*5，是當(dāng)前型號^*4的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評估多處局部的細微結(jié)構(gòu)。

3．增強信號檢測能力

SU8600開發(fā)了多個新型選配檢測器，加強了對凹凸信息、發(fā)光信息的檢測能力。此外，還提高了背散射電子信號檢測的響應(yīng)速度。

SU8700的樣品倉設(shè)計巧妙，可使用短WD^*6進行EDS^*7分析，通過提高EDS分析的空間分辨率，能夠?qū)崿F(xiàn)更微小部位的分析。

　日立高新技術(shù)將繼續(xù)提供以此系列產(chǎn)品為核心的創(chuàng)新解決方案，助力客戶在先進領(lǐng)域的飛躍成長，未來仍將致力于創(chuàng)造全新的社會與環(huán)境價值，為前沿制造業(yè)的發(fā)展貢獻力量。

*3. EBSD：Electron Back Scatter Diffraction（電子背散射衍射）。一種用于晶體樣品取向分析的方法。
*4. 與Regulus系列FE-SEM對比

*5. 選配，可擴展。

*6. WD：Working Distance. （工作距離：SEM物鏡與樣品間的距離）

*7. EDS：Energy Dispersive X-ray Spectroscopy（能譜儀）

■公司介紹：

日立科學(xué)儀器（北京）有限公司是世界500強日立集團旗下日立高新技術(shù)有限公司在北京設(shè)立的全資子公司。本公司秉承日立集團的使命、價值觀和愿景，始終追尋“簡化客戶的高科技工藝”的企業(yè)理念,通過與客戶的協(xié)同創(chuàng)新，積極為教育、科研、工業(yè)等領(lǐng)域的客戶需求提供專業(yè)和優(yōu)質(zhì)的解決方案。

我們的主要產(chǎn)品包括：各類電子顯微鏡、原子力顯微鏡等表面科學(xué)儀器和前處理設(shè)備，以及各類色譜、光譜、電化學(xué)等分析儀器。為了更好地服務(wù)于中國廣大的日立客戶，公司目前在北京、上海、廣州、西安、成都、武漢、沈陽等十幾個主要城市設(shè)立有分公司、辦事處或聯(lián)絡(luò)處等分支機構(gòu)，直接為客戶提供快速便捷的、專業(yè)優(yōu)質(zhì)的各類相關(guān)技術(shù)咨詢、應(yīng)用支持和售后技術(shù)服務(wù)，從而協(xié)助我們的客戶實現(xiàn)其目標(biāo)，共創(chuàng)美好未來。

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