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首頁>>深圳市新瑪科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體C-V特性分析儀>>試驗系統(tǒng)

  • IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議

    測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進(jìn)行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復(fù)開啟和關(guān)閉引起的反復(fù)高溫...
    型號： 廠商性質(zhì)：代理商所在地：深圳市 對比
    IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H碳化硅器件參數(shù)測試儀IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)
    2024/1/29 15:42:292222

  • IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議

    IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
    型號： 廠商性質(zhì)：代理商所在地：深圳市 對比
    SIC碳化硅器件測試儀HUSTEC-3000HUSTEC碳化硅器件參數(shù)測試儀參數(shù)測試儀
    2024/1/29 15:40:262407
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