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CINDBEST CT-6非真空高低溫探針臺
  • CINDBEST CT-6非真空高低溫探針臺
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貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2025-03-10 15:44:34

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CINDBEST CT-6非真空高低溫探針臺大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜

CT-6非真空高低溫探針臺

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜

CT-6非真空高低溫探針臺

 特點/應(yīng)用

大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜

優(yōu)化的腔體保溫結(jié)構(gòu)可以極大的減少液氮消耗量
 
可搭配多種類型顯微鏡

結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計,可無縫升級

探針臺可根據(jù)客戶要求定制。

 

 臺體規(guī)格:

 

型號

CT-6/CT-8/CT-12

樣品臺尺寸

6英寸/8英寸/12英寸

水平旋轉(zhuǎn)

可360度旋轉(zhuǎn),可微調(diào)15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程

6英寸*6英寸/8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移動精度

10微米/1微米

樣品固定

真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環(huán)

針座平臺

U型針座平臺,多可放置6~12個探針座

平臺升降

可快速升降10mm/可微調(diào)升降10mm

背電極測試

樣品臺電學(xué)獨立懸空,4mm插孔可接背電極

溫度范圍

負80°到正400°

溫控精度

0.01°/0.1°/1°

重量

約120千克/150千克

 

 

◆ 光學(xué)系統(tǒng):

顯微鏡類型

單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移動行程

水平方向繞立柱旋轉(zhuǎn)/XY軸移動4英寸,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環(huán)形光源/同軸光源

CCD

200萬像素/500萬像素/1200萬像素

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