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Huace-8D 雙面探針臺

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  • 型號
  • 品牌 HUACE/北京華測
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2024/12/12 13:44:31瀏覽次數(shù):1294

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子,電氣,綜合
Huace-8D 雙面探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。

詳細介紹

Huace-8D 雙面探針臺


雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng),穩(wěn)定的結(jié)構(gòu),符合人體工程學(xué),以及多項升級功能。可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer , LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。


技術(shù)參數(shù)型號

Huace-8D雙面探針臺

臺體

chuck尺寸

8英寸

平旋轉(zhuǎn)

卡盤可以360度旋轉(zhuǎn),細調(diào)精度不大于0.1度,帶有鎖定旋鈕

XY移動行程

8英寸*8英寸

XY移動精度

10um/1um可選

樣品固定

樣品夾定,尺寸可調(diào);真空吸附固定,卡盤多圈吸附環(huán)可獨立控制

雙面點針平臺

氣動升降平臺升起為雙平臺,落下可做單平臺使用

平臺針座數(shù)量

單平臺最多放置8個CB-200針座

卡盤結(jié)構(gòu)

普通/高溫/帶背電極等結(jié)構(gòu)卡可選擇

溫控系統(tǒng)

溫度范圍

室溫~300℃ (400℃,500℃可選)

溫控精度

0.1℃

溫控穩(wěn)定性

±1℃

溫控傳感器

100Ω 鉑電阻傳感器

正面光學(xué)系統(tǒng)

CCD

200W/500W/1200W像素可選(正反面)

顯微鏡類型

單筒/體視/金相顯微鏡可選

放大倍率

16X-100X/20X-2000X

顯微鏡調(diào)節(jié)

水平方向繞立柱旋轉(zhuǎn)X-Y移動2*2英寸,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環(huán)形光源/同軸光源

背面光學(xué)系統(tǒng)

顯微鏡類型

L型單筒顯微鏡

連續(xù)變倍比

6.3:1

放大倍率范圍

0.75–5X

放大倍率

315X(計算公式:變焦*CCD*顯示器)

顯微鏡調(diào)節(jié)

萬向移動

光源

同軸光源

技術(shù)參數(shù)型號

臺體配件技術(shù)參數(shù)

探針座

X-Y-Z移動行程

12*12*12mm

移動精度

10/2/0.7/0.5/0.35um可選

固定方式

磁力吸附/真空吸附可選

探針夾具

線纜

同軸線/三軸線可

漏電精度

10pA/100fA

探針固定方式

彈簧固定/管狀固定

接頭類型

BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選

探針

材質(zhì)

鎢鋼/鈹銅可選

針尖直徑

0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選

探針可選配件

屏蔽箱

高壓測試配件

光學(xué)防震桌

射頻測試配件

鍍金卡盤

轉(zhuǎn)接頭

探針卡夾具

其他


公司專注于絕緣材料與xianjin功能新材料電性能檢測以及材料電學(xué)測控設(shè)備研發(fā)與制造,先后成為華為、中興、國家電網(wǎng)、航天工業(yè)等合格供應(yīng)商。我們不僅具備自營進出口權(quán),獲得了多項軟件著作權(quán)和實用新型zl等知識產(chǎn)權(quán),并順利通過了ISO9001的質(zhì)量管理體系認證,更在測試測量行業(yè)積累了豐富的產(chǎn)品新產(chǎn)品研發(fā)、系統(tǒng)集成開發(fā)經(jīng)驗。公司擁有功能材料、電氣絕緣材料兩個電學(xué)試驗室;涉及材料測試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評價等相關(guān)儀器。


公司主營產(chǎn)品:

幾大系列:*功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。


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