磁性法美國LEE L170涂層測厚儀 返回列表頁

             磁性法美國LEE L170涂層測厚儀

170 具有一鍵操作功能，無須校準，也不用重設(shè)即可進行下一次測量，

無需對操作人員進行培訓(xùn)即可操作。  

測量原理：磁性法　

測量范圍：1～1250μm

測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）

分辨率：1μm  

L170涂鍍層測厚儀功能：

可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。
可對探頭進行基本校準。
具有自動關(guān)機功能。
操作過程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯誤提示功能。

 L170涂鍍層測厚儀指標：
測量原理：磁性法
測量范圍：1～1250μm
測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）分辨率：1μm工件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5  /  凹 10 ；接觸zui小面積直徑10(mm) ；基體臨街厚度（mm）  0.3使用環(huán)境：溫度 0-40攝氏度； 濕度  20%-75% ；  無磁場環(huán)境電源：四節(jié)1.5伏AAA電池外形尺寸：112 ×69×28mm重量：82 g(不含電池) 

 標準配置：

主機、標準校準片組、校準鐵基體、使用指南、校準片檢驗報告、手提箱、掛繩及電池等。