渦流原理非磁性美國LEE L180測厚儀 返回列表頁

                          美國LEE L180測厚儀(渦流技術(shù))

測量原理：渦流法　

測量范圍：1～1250μm

測量準(zhǔn)確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準(zhǔn)）

分辨率：1μm

L180 涂鍍層測厚儀的詳細(xì)介紹L180涂鍍層測厚儀功能：
　　可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及全量程校準(zhǔn)。紅寶石防磨探頭。
　　可對探頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
　　具有自動關(guān)機(jī)功能。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。L180涂鍍層測厚儀指標(biāo)：
　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量準(zhǔn)確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準(zhǔn)）

分辨率：1μm工

件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5  /  凹 10 ；

接觸zui小面積直徑10(mm) ；

基體臨街厚度（mm）  0.3

使用環(huán)境：溫度 0-40攝氏度； 濕度  20%-75% ；  無磁場環(huán)境

電源：四節(jié)1.5伏AAA電池

外形尺寸：112 ×69×28mm

重量：82 g(不含電池)  

標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片組、校準(zhǔn)鐵基體、使用指南、校準(zhǔn)片檢驗(yàn)報告、手提箱、掛繩及電池等