渦流原理非磁性美國LEE L180測厚儀 返回列表頁

                          美國LEE L180測厚儀(渦流技術(shù))

測量原理：渦流法　

測量范圍：1～1250μm

測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）

分辨率：1μm

L180 涂鍍層測厚儀的詳細介紹L180涂鍍層測厚儀功能：
　　可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。
　　可對探頭進行基本校準。
　　具有自動關(guān)機功能。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。L180涂鍍層測厚儀指標：
　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）

分辨率：1μm工

件要求：zui小曲率半徑（mm）凸5  /  凹 10 ；

接觸zui小面積直徑10(mm) ；

基體臨街厚度（mm）  0.3

使用環(huán)境：溫度 0-40攝氏度； 濕度  20%-75% ；  無磁場環(huán)境

電源：四節(jié)1.5伏AAA電池

外形尺寸：112 ×69×28mm

重量：82 g(不含電池)  

標準配置：

主機、標準校準片組、校準鐵基體、使用指南、校準片檢驗報告、手提箱、掛繩及電池等