薄膜厚度測量儀 返回列表頁

薄膜厚度測量儀在線測量的解決方案

使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達到四個不同的位置（EXR和UVX版本兩個位置）。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導出到主機軟件中進行統(tǒng)計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。

包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下，它預裝了100多種材料，使得單層和多層薄膜的測量很容易實現(xiàn)。通過測量樣品的光學常數(shù)或從現(xiàn)有的來源輸入數(shù)據(jù)，可以快速添加新材料。

薄膜厚度測量儀附加特性

•             嵌入式在線診斷方式

•             免費離線分析軟件

•             精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結果