KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀

產(chǎn)品介紹：

KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價格實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。采用白光干涉原理，不損傷樣品。

KLA光學(xué)輪廓儀特點優(yōu)勢：

• 視場范圍：Profilm3D僅用10倍物鏡就提供了達到2mm的視場范圍，同時其最大4倍光學(xué)變焦的功能滿足了不同應(yīng)用時切換多個物鏡的需求。這些都進一步降低了采購需求成本。

• 100mm自動XY樣品臺：每臺Profilm3D光學(xué)輪廓儀都配備100mm自動XY樣品臺，4孔物鏡轉(zhuǎn)臺和手動調(diào)平裝置作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

• 性價比高：以較低的價格實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。

• ?非接觸式高精度測量?：垂直分辨率可達?亞納米級?（<1nm），適用于敏感材料（如軟質(zhì)聚合物、生物樣本）的無損檢測。

• ?測量簡單：?Profilm3D光學(xué)輪廓儀軟件能直觀的反應(yīng)包括表面粗糙度，形狀和臺階高度的測量。在數(shù)秒內(nèi)，您可以獲得平面和曲面表面上測量所有常見的粗糙度參數(shù)。也可以選擇拼接功能軟件升級來組合多個影像以提供大面積測量。

KLA光學(xué)輪廓儀測量原理：

KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀采用白光作為光源，通過分光鏡將光束分為兩路：一路照射被測樣品表面，另一路投射至參考鏡表面，兩束反射光在CCD相機上形成干涉條紋。樣品表面的微小高度差導(dǎo)致光程差變化，通過分析干涉條紋的明暗分布及位置偏移，計算表面各點的相對高度，生成三維形貌數(shù)據(jù)。

主要應(yīng)用：

產(chǎn)品參數(shù)：

KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀圖：