篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計

奧地利EMCOTEST硬度計

表面處理層無損檢測系統(tǒng)

公司信息

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SPECTROLAB斯派克新一代LAB火花直讀光譜儀
斯派克新一代LAB火花直讀光譜儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 SPECTROLAB
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時間:2021-04-29 10:01:59瀏覽次數(shù):1975

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【簡單介紹】
激發(fā)方式 火花 價格區(qū)間 面議
檢測器類 其他 儀器種類 臺式
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子,印刷包裝,航天,汽車
斯派克新一代LAB火花直讀光譜儀
新一代LAB火花直讀光譜儀集元素分析的偉大創(chuàng)新于一身。穩(wěn)定性,靈活性和全面功能融為- -體。雙檢測器或全CCD光學系統(tǒng)配置為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了全新標準。第三代全譜檢測光學系統(tǒng)為金屬I業(yè)提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統(tǒng)無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性,穩(wěn)定性和高精度的嚴格要求。
【詳細說明】
  • 新一代LAB火花直讀光譜儀集元素分析的偉大創(chuàng)新于一身。穩(wěn)定性,靈活性和全面功能融為- -體。雙檢測器或全CCD光學系統(tǒng)配置為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了全新標準。第三代全譜檢測光學系統(tǒng)為金屬I業(yè)提供了杰出的光學分析性能。雙檢測器光學系統(tǒng)無懈可擊地滿足了個性化科研實驗室對靈活性,穩(wěn)定性和高精度的嚴格要求。LAB尤其適于檢測新材料,痕量元素,夾雜物,高純金屬以及貴金屬。LAB根據(jù)用戶要求量身定制,十種標準基體:鐵、鋁、銅、鎳、鈷、鎂、鈦、錫、鉛和鋅,可以與五種貴金屬基體:金、銀、鉑、鈀、釕組合配置。CCD光學系統(tǒng)中實現(xiàn)120-780nm波長范圍內(nèi)所有元素的全譜記錄。PMT光學系統(tǒng)中可放置108個高性能通道,每通道配有微積分器( TRS 功能)和單火花評估(SSE功能)。

優(yōu)良的元素靈活性——涵蓋15種基體、68種方法、65種元素和210種譜線(不計參考譜線);
不需改變硬件即可快速增加元素和方法(SPECTROLAB CCD版)
?          僅需一份樣本的簡單標準化——根據(jù)斯派克´的智能校準邏輯(iCAL)——平均每日節(jié)省30分鐘(SPECTROLAB CCD版)
?          出色的易用性,操作輕松——簡化的操作界面通過專用工具欄按鈕提供清晰的選項

1、兩種配置:雙檢測器光學系統(tǒng)全CCD光學系統(tǒng):

SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計。雙檢測器模塊實現(xiàn)了“混合動力”優(yōu)勢模擬電子技術(shù)的檢測器光電倍增管( PMT )和數(shù)字技術(shù)電荷耦合檢測器( CCD) 呈現(xiàn)準確度多元素測量。適合于科研檢測新材料,痕量元素,雜物,高純金屬以及貴金屬.
全CCD模塊實現(xiàn)了快速,準確,非常靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體,多元素分析的應(yīng)用。為爐前過程控制和成品質(zhì)星控制和成品質(zhì)星控制提分析結(jié)果。

2、非常靈活的元素選擇:

摒棄了以往耗時,昂貴的硬件通道擴展方式。大多數(shù)SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設(shè)置??蛇x的軟件擴展設(shè)置使得用戶甚至可以不用準備標樣制作工作曲線。

3、非常高的靈敏度

一 利益于動態(tài)背景校正等新技術(shù),檢測限達到新水平。SPECTROL AB可以準確測定百分之- ( PPM )水平的痕元素含量。

4、高速測量:

SPECTROLAB的設(shè)計是以抓住每一一個機會來滿足 金屬分析對速度的需求。例如,高能等離子發(fā)生器光源配合*的動態(tài)預然控制,實現(xiàn)縮短優(yōu)質(zhì)試樣分析時間。因而,瞬間切換到激發(fā)測星階段。增加單位時間樣品測試數(shù)量。在許多應(yīng)用中都可以實現(xiàn)非常短的分析時間



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