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  • PHI X-tool 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

    PHI X-tool 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀一束高能初級(jí)離子轟擊樣品表面激發(fā)出原子和分子碎片只一小部分激發(fā)出的粒子以離子的狀態(tài)離開表面,被質(zhì)量分析器探測出來對(duì)于...

    型號(hào): 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/5 14:02:33 對(duì)比
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  • 美國PHI 高性能飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

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    型號(hào): 02 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/5 13:46:03 對(duì)比
    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀ULVAC-PHIPHI nano TOF 3+
  • PHI X射線光電子能譜儀

    PHI X射線光電子能譜儀PHI Genesis 500是新一代配置了全自動(dòng)多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜,易操作式多功能選配附件,能夠?qū)崿F(xiàn)全自動(dòng)樣品傳送停放...

    型號(hào): PHI Genes... 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/28 10:40:13 對(duì)比
    俄歇電子能譜儀ULVAC-PHIPHI X射線光電子能譜儀
  • 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀

    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+,先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力,更加出色的分析精度詳細(xì)介紹PHI nanoTOF3+ ...

    型號(hào): PHI nano ... 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/28 10:28:19 對(duì)比
    飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀ULVAC-PHIPHI nano TOF 3+
  • 俄歇電子能譜儀

    俄歇電子能譜儀PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺(tái)設(shè)計(jì)的高性能的俄歇電子能譜(AES)儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元...

    型號(hào): PHI 710 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/28 9:09:19 對(duì)比
    俄歇電子能譜儀ULVAC-PHI
  • PHI 硬X射線光電子能譜儀

    PHI 硬X射線光電子能譜儀主要應(yīng)用于電池、半導(dǎo)體、光伏、新能源、有機(jī)器件、納米顆粒、催化劑、金屬材料、聚合物、陶瓷等固體材料及器件領(lǐng)域。用于全固態(tài)電池、半導(dǎo)體...

    型號(hào): PHI Genes... 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/10/27 13:49:13 對(duì)比
    PHI 硬X射線光電子能譜儀ULVAC-PHI

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