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當前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>物理特性儀器>>測厚儀>> MProbe系列反射膜厚儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號MProbe系列
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2023-05-19 13:16:00瀏覽次數(shù):528次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥 |
產(chǎn)品品牌:Semiconsoft
當一束光入射到薄膜表面時,薄膜上表面和下表面的反射光會發(fā)生干涉,干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學常數(shù)等有關(guān),反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。
反射膜厚儀是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術(shù)。
測量范圍: 1 nm - 1 mm
波長范圍: 200 nm -8000 nm
光斑尺寸:2um -3 um
標準配置中包含:
1. 主機(光譜儀,光源,電線)
2. 反射光纖
3. 樣品臺及光纖適配器
4. TFCompanion軟件
5. 校準套裝
6. 測試樣品,200nm晶圓
廣泛的應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)及工藝監(jiān)控中:
半導體晶圓,薄膜太陽能電池,液晶平板,觸摸屛,光學鍍膜,聚合物薄膜等
半導體制造:· 光刻膠 · 氧化物 · 氮化物
光學鍍膜:· 硬涂層 · 抗反射涂層 · 濾波片
生物醫(yī)學:· 生物膜厚度 · 硝化纖維
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