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X射線鍍層測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號M1 ORA

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間：2023-05-19 17:33:22瀏覽次數(shù)：297次

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產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 能源,建材,電子,交通,汽車
X射線鍍層測厚儀
?M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。
M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）以上的元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析，數(shù)分鐘內(nèi)就可以得到結果。

產(chǎn)品品牌：Bruker

產(chǎn)品型號：M1 ORA

產(chǎn)品描述：M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線熒光光譜儀（μ-XRF）

X射線鍍層測厚儀

M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。

M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數(shù)22號（鈦）以上的元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析，數(shù)分鐘內(nèi)就可以得到結果。

樣品尺寸大可達100×100×100mm，無需處理，直接放在樣品臺上檢測，采用光學顯微鏡進行準確定位。

采用大感應面積的正比計數(shù)器接收樣品發(fā)出的熒光信號。采集的信號越多，分析結果越準確?？梢詸z測含量在0.005的元素

基于標樣模型或無標樣模型，可以鑒別和定量分析樣品中的元素。

珠寶、黃金、貴金屬分析

X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析，同時能夠得到高準確度測試結果的分析方法

由于珠寶首飾件通常都小，又有些是采用不同貴金屬組合，X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內(nèi)的準直器將激發(fā)的X射線集中于一小點。

行業(yè)應用：

X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用于大量的黃金合金系列，可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

黃金成分范圍0.35（8克拉/K）~（24克拉/K）

適用于：白金、黃金、鉑合金、銀合金


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