當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>物理特性儀器>>測厚儀>> MProbe UVVisSR反射膜厚儀

反射膜厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號MProbe UVVisSR

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時間：2023-05-22 14:38:22瀏覽次數(shù)：348次

聯(lián)系我時，請告知來自 化工儀器網(wǎng)
同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品更多>
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,制藥
反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。

產(chǎn)品品牌：Semiconsoft

產(chǎn)品型號：MProbe UVVisSR

產(chǎn)品描述：MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。

反射膜厚儀


產(chǎn)品概述

        MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

       該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

測量范圍: 1 nm -50um    

波長范圍: 200 nm -1000 nm

MProbe UVVisSR薄膜測厚儀適用于實(shí)時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。

測量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)

界面友好: 一鍵式測量和分析。

實(shí)用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。


（MProble NIR薄膜測厚儀系統(tǒng)示 ）

案例1，73nm SiN氮化硅薄膜的測量


硅晶圓反射率，測量時間10ms


使用Tauc-Lorentz模型，測量SiN薄膜的n和k值




會員登錄

×

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言