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當(dāng)前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>物理特性儀器>>測厚儀>> Frontier Semiconductor光學(xué)膜厚測量設(shè)備
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號Frontier Semiconductor
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2023-05-24 13:19:31瀏覽次數(shù)：517次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,司法,汽車,電氣 |
產(chǎn)品品牌：Bruker
產(chǎn)品型號：NP Flex
為大尺寸工件加工提供非接觸準(zhǔn)確測量布魯克的NPFlex三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，可廣泛用于醫(yī)療植入，航空航天、汽車或加工上的大型、異型工件的測量。基于白光干涉原理，NPFlex為用戶提供超過接觸式方法所能達(dá)到的更大數(shù)據(jù)量、更高分辨率和更好的重復(fù)性，使它成為互補型的測量方案。
開放式的龍門設(shè)計克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測量困難，現(xiàn)在NPFlex可實現(xiàn)超過300度的測量空間。NPFlex的靈活性、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和測試效率為加工行業(yè)提供了一種簡單的方法，來實現(xiàn)其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產(chǎn)品。
布魯克NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題造成的測量困難。NPFLEX是針對大型、異型工件進(jìn)行非接觸測量，獲得微米級、毫米級樣品形貌特征的三維表面測量系統(tǒng)。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度
·空間設(shè)計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多
·開放式龍門、定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位
三維表面信息測量
·每次測量均可獲取多種分析結(jié)果
·更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析
垂直方向可達(dá)納米級分辨率，提供更多的細(xì)節(jié)
·干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點上亞納米級垂直分辨率
快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速
·少的樣品準(zhǔn)備時間和測量準(zhǔn)備時間
·比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)
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