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當前位置：上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>分析儀器>>色譜、質(zhì)譜、光譜、波譜>> 納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間：2024-05-20 16:53:37瀏覽次數(shù)：234次
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賽默飛LCQ Fleet 離子阱液質(zhì)聯(lián)用儀
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器類型 | 實驗室型 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 傅立葉變換型（FT) | 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys
儀器種類：傅立葉變換型
儀器類型：實驗室型
產(chǎn)地類別：進口
波數(shù)范圍：900-3600cm-1
分辨率：空間分辨率10nm, 光譜分辨率<1cm-1
掃描速度：10s/spectra
信噪比：200:1
產(chǎn)品介紹
2015年Anasys發(fā)布了最新一代產(chǎn)品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學成像和光譜功能（s-SNOM）。實現(xiàn)了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機無機復合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。
納米紅外&散射近場光學成像和光譜系統(tǒng)(nanoIR2-s)
AFM-IR &s-SNOM
l AFM-IR 消除分析化學研究人員的擔憂--與FTIR光譜吻合，沒有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射，空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定
l 技術(shù)實現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整，無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度
l 最準確的定性微區(qū)化學表征，得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國機構(gòu)的認可
l 簡單易用的操作，被三十多位企業(yè)用戶和近百位學術(shù)界所選擇
l 基于DI傳承的多功能AFM實現(xiàn)納米熱學，力學，電學和磁學測量：
l 納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）
l 洛侖茲接觸共振模塊（LCR）
l 導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）
l 開爾文電勢顯微鏡（KPFM）
l 磁力顯微鏡（MFM）
l 靜電力顯微鏡（EFM）
10納米空間分辨率化學成像和光譜
石墨烯等離子體 高分辨率成像
石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優(yōu)于10nm的光學成像
PTFE的nano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖（上圖）,和相應的近場光譜（下左圖）。pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。
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