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首頁>>上海昊量光電設備有限公司>>產(chǎn)品展示>>光學部件>>光譜測量系統(tǒng)

  • 相位偏折測量系統(tǒng) 參考價:面議

    相位偏折測量系統(tǒng)相位偏折術或條紋反射法,是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對比
    偏折術相位偏折術輪廓儀激光干涉儀干涉儀
    2024/9/29 15:22:22606
  • 光譜透過率測量系統(tǒng) 參考價:面議

    光譜透過率測量系統(tǒng):AUT GPS-200推出的?套光譜透過率測試系統(tǒng),通過光譜儀與均勻光源組成透過率測量系統(tǒng),幫助客戶對光學玻璃、濾光?、膜層、顯示屏(OLE...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對比
    光譜透射率亮度透射率光譜儀成像亮度計高分辨率成像亮度計
    2024/6/5 15:42:03667
  • 光學視角檢測儀—顯示測量 參考價:面議

    光學視角檢測儀—顯示測量,ELDIM制造基于傅里葉光學的光學視角檢測儀已經(jīng)超過25年了?;?的光學設計,可以控制系統(tǒng)的角孔徑與測量光斑大小相獨立,可以實現(xiàn)非常...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對比
    光學視角檢測儀光學視角測試光學視角測試系統(tǒng)視角測試視角檢測
    2022/4/12 15:07:592220
  • Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) (單點測量) 參考價:面議

    Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) (單點測量)是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統(tǒng),只需點擊鼠標薄膜厚度和折射率測量,測量厚度范圍1nm-1mm.
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對比
    膜厚測量系統(tǒng)膜厚厚度測量filmetricssemiconsoft
    2021/8/14 8:36:281639
  • 光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng) 參考價:面議

    光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術,主要用于精確測量各種反射率...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對比
    腔鏡測量系統(tǒng)高反射率測量系統(tǒng)光腔衰蕩測量系統(tǒng)反射率測量設備光腔衰蕩光譜檢測系統(tǒng)
    2021/6/2 9:46:182475

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