薄層方塊電阻測量儀-非接觸式 參考價:面議
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昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量,對導(dǎo)電薄膜的膜厚...膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm) 參考價:面議
膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃級分辨率,非接觸式無損...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)