首頁>>上海昊量光電設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品>>膜厚測(cè)量?jī)x
薄層方塊電阻測(cè)量?jī)x-非接觸式 參考價(jià)：面議
薄層方塊電阻測(cè)量?jī)x-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款非接...
非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測(cè)量的非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款金屬膜厚測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜的膜厚...
膜厚測(cè)量?jī)x（測(cè)量厚度1nm~1.8mm） 參考價(jià)：面議
膜厚測(cè)量?jī)x（測(cè)量厚度1nm~1.8mm）美國(guó)Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測(cè)厚儀測(cè)量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級(jí)分辨率，非接觸式無損...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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