CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種*的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時(shí)。Abrio技術(shù)通過自動(dòng)化定量極化顯微鏡的過程，打開了雙折射成像世界的大門，允許你精確地計(jì)算出每一個(gè)像素在幾秒內(nèi)的延遲幅度和方向

可檢測樣品：

l  光學(xué)材料

l  玻璃

l  聚合物

l  硅片

l  薄膜

l  鋁

l  石墨

特征：

l  每像素定量延遲數(shù)據(jù)

l  操作簡便，交互軟件

l  快速圖像采集（3s每幅）

l  延遲靈敏度到0.02nm

ABRIO成像系統(tǒng)

可視化和測量透射物體、反射物體（如玻璃，水晶，塑料，光纖，鋁等）雙折射結(jié)構(gòu)，幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)所有像素點(diǎn)成像。該系統(tǒng)包含的外設(shè)顯微鏡綜合了*的液晶偏振光對比技術(shù)，控制電路，成像算法和交互式軟件。

定量雙折射數(shù)據(jù)

空間分辨率，數(shù)據(jù)采集速率，測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件，制造中的聚合物纖維，細(xì)胞生物學(xué)中的微觀結(jié)構(gòu)和制藥工業(yè)中的化合物的應(yīng)力和應(yīng)變的理想工具。

自動(dòng)的延遲量和方位角數(shù)據(jù)

系統(tǒng)將自動(dòng)計(jì)算樣本圖像中每個(gè)像素的延遲和方位數(shù)據(jù)。 原始數(shù)據(jù)和計(jì)算數(shù)據(jù)都可以存儲(chǔ)用于記錄和審查。

背景更正

系統(tǒng)將使用算法自動(dòng)計(jì)算背景信息，以獲得高靈敏度和準(zhǔn)確度。

偏振方向無關(guān)

*的CRI的Abrio成像技術(shù)，偏振圖像是獨(dú)立于偏振器或標(biāo)本的方向。 這導(dǎo)致了亮度，細(xì)節(jié)和清晰度均勻的圖像。

快速圖像采集

CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內(nèi)生成處理后的圖像

無移動(dòng)部件

不需要手動(dòng)操作偏振片或樣品。 計(jì)算機(jī)控制的基于液晶的光學(xué)系統(tǒng)可以產(chǎn)生*的像素到像素圖像配準(zhǔn)和精確的偏振控制。

全面的軟件分析工具

軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數(shù)，

包含：

•線掃描

•偽彩色覆蓋

•單像素測量

•矢量疊加

•閾值

•面積計(jì)算

系統(tǒng)部件

基于液晶的偏振補(bǔ)償器

Abrio光學(xué)系統(tǒng)的核心是液晶（LC）組件，它可以改變光線的偏振態(tài)，而不會(huì)使部件運(yùn)動(dòng)，產(chǎn)生噪聲，zui重要的是沒有圖像偏移。

綠色帶通濾光片

當(dāng)通過目鏡觀察時(shí)，546納米濾光片將使圖像呈現(xiàn)高對比度綠色，這對于LC偏振補(bǔ)償光學(xué)器件是*的。

圓偏振片

圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號(hào)。

光耦合器

在顯微鏡的相機(jī)端口和CCD相機(jī)之間放置0.45x或0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量，從而減少了圖像捕獲時(shí)間。

CCD相機(jī)，計(jì)算機(jī)和顯示器

這些組件和預(yù)安裝的PCI板卡允許您捕捉數(shù)字圖像。數(shù)字圖像可以進(jìn)行處理，歸檔，導(dǎo)出或檢索，而不會(huì)損失質(zhì)量。