Seeback塞貝克效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)

塞貝克（Seeback）熱電效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)是用來(lái)精確測(cè)量導(dǎo)電物質(zhì)、金屬、有機(jī)導(dǎo)體和半導(dǎo)體的塞貝克系數(shù)的儀器。該設(shè)備樣品臺(tái)附加在焦耳-湯姆遜制冷臺(tái)上可以提供70K-730K的變溫范圍。擁有的溫度穩(wěn)定系和重現(xiàn)性，分辨率可達(dá)到0.01K。擁有*的塞貝克系數(shù)測(cè)量精度及穩(wěn)定性，精度可達(dá)到50nV。易于測(cè)量?jī)蓸悠?，測(cè)量樣品包含金屬或者是薄膜

塞貝克系數(shù)測(cè)量?jī)x、塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng), Seeback Measurement Systems

Seeback塞貝克效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)

賽貝克熱電效應(yīng)(Seeback)是指在兩種不同導(dǎo)體組成的閉合電路中，如果兩個(gè)接點(diǎn)的溫度不同，則兩接點(diǎn)間會(huì)有電動(dòng)勢(shì)產(chǎn)生。塞貝克系數(shù)測(cè)量?jī)x是用來(lái)精確測(cè)量導(dǎo)電物質(zhì)、金屬、有機(jī)導(dǎo)體和半導(dǎo)體的塞貝克系數(shù)的儀器。塞貝克(Seeback)系數(shù)測(cè)量?jī)x主要包括塞貝克效應(yīng)控制器、塞貝克樣品臺(tái)、溫度控制器三部分。

賽貝克(Seeback)平臺(tái)依附在制冷臺(tái)上可以提供70K-730K和室溫-730K的變溫范圍，結(jié)合溫度控制器AUK2000可提供精確的溫度控制與測(cè)量并且擁有*的穩(wěn)定性和重復(fù)性。該系統(tǒng)控溫精度可達(dá)到±0.1K，分辨率可達(dá)到±0.01K，對(duì)溫度的響應(yīng)速度可達(dá)到1K/s。

賽貝克系數(shù)測(cè)量?jī)x的工作原理大致如下，在賽貝克樣品臺(tái)上包含兩組熱電偶，一組是銅和已知熱電屬性的參考材料構(gòu)成，一組是銅與待測(cè)樣品組成(如下圖所示)。其中一個(gè)接點(diǎn)為參考點(diǎn)，另一個(gè)接點(diǎn)為工作點(diǎn)。當(dāng)參考點(diǎn)與工作接點(diǎn)有溫差時(shí)就可以分別探測(cè)到兩端電壓V₁和V₂。即

(1). V₁=e₁DT(P);  (2). V₂=e₂DT(P);  所以(3).e₁=e₂ V₁/ V₂ 。由于這種直接測(cè)量不會(huì)有很高的精度，因?yàn)閮x器工作時(shí)會(huì)有儀器誤差、電線和連接點(diǎn)帶來(lái)的熱電效應(yīng)和測(cè)量誤差。為了消除這些誤差分別在兩個(gè)不同輸入功率下進(jìn)行測(cè)量即：(4).V₁(P₁)= e₁DT(P₁)+ D V₁ ; (5).V₂(P₁)=e₂DT(P₁)+ D V₂ ; D V₁ D V₂ 位系統(tǒng)誤差電壓（與溫度無(wú)關(guān)）。(6). V₁(P₂)= e₁DT(P₂)+ D V₁ ；(7). V₂(P₂)= e₂DT(P₂)+ D V₂ 。消除系統(tǒng)誤差即可得到e₁=e₂[V₁(P₁)- V₁(P₂)]/[ V₂(P₁)- V₂(P₂)]，系統(tǒng)誤差得到消除。

塞貝克效應(yīng)的測(cè)量通過(guò)塞貝克控制器AUK1000來(lái)實(shí)現(xiàn)的。其結(jié)構(gòu)緊湊小巧，可通過(guò)R232或者USB接口與電腦連接，并通過(guò)軟件完成測(cè)試。塞貝克數(shù)字控制器可實(shí)時(shí)對(duì)電壓進(jìn)行測(cè)量并提供高精度和高重現(xiàn)性的測(cè)量，精度可達(dá)到50nV。

u  主要特點(diǎn)

• 寬的操作溫度（70-730K）
• 的溫度穩(wěn)定性和重復(fù)性（±0.1K）
• 高的測(cè)量精度（50nV）
• 實(shí)時(shí)測(cè)量與分析
• 可測(cè)量柱狀或帶狀樣品

u  主要應(yīng)用

塞貝克系數(shù)測(cè)量?jī)x是用來(lái)精確測(cè)量導(dǎo)電物質(zhì)、金屬、有機(jī)導(dǎo)體和半導(dǎo)體的塞貝克系數(shù)。

u  主要參數(shù)