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電阻率測(cè)試儀(RESmap ) 參考價(jià):面議
電阻率測(cè)試儀(RESmap )在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)