廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

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標(biāo)樂Buehler 金相制樣
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
業(yè)納 長度測(cè)量儀器
澤攸科技掃描電鏡&臺(tái)階儀
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
INSTEC 冷熱臺(tái)

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿電鏡制樣研討會(huì)-西南交通大學(xué)

時(shí)間:2025-6-10閱讀:39
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顯微樣品制樣與分析、電鏡樣品前處理作為微觀研究的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其技術(shù)水平在科學(xué)研究和生產(chǎn)制造中扮演著越來越重要的角色。5月23日,前沿電鏡制樣研討會(huì)在西南交通大學(xué)圓滿完成。


會(huì)議亮點(diǎn)回顧

本次研討會(huì)旨在深入探討樣品檢測(cè)的先進(jìn)技術(shù)、顯微觀察的關(guān)鍵技巧以及電鏡前處理制樣的優(yōu)化方法,為不同科研領(lǐng)域的老師同學(xué)以及企業(yè)技術(shù)人員,提供一個(gè)交流學(xué)習(xí)、分享經(jīng)驗(yàn)的平臺(tái)。


領(lǐng)拓聚焦 | 前沿電鏡制樣研討會(huì)-西南交通大學(xué)
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活動(dòng)開始,由西南交通大學(xué)分析測(cè)試中心主任鄧亞紅進(jìn)行開場(chǎng)致辭,對(duì)蒞臨會(huì)議的專家學(xué)者、研究人員和學(xué)生表示了衷心的歡迎和感謝。

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿電鏡制樣研討會(huì)-西南交通大學(xué)

本次會(huì)議分主要為理論專家報(bào)告。作為本次會(huì)議的主辦方,領(lǐng)拓儀器分別派出了領(lǐng)拓檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室經(jīng)理黃曉曄領(lǐng)拓高級(jí)應(yīng)用工程師張靈柘進(jìn)行主題報(bào)告,分享最新的樣品檢測(cè)技術(shù)與電鏡樣品制備技術(shù)。

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黃曉曄 -《跨尺度樣品制備技術(shù):從宏觀切割到納米級(jí)拋光》

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張靈柘 -《電鏡制樣技術(shù)-樣品到電鏡圖像的關(guān)鍵》


本次會(huì)議,領(lǐng)拓團(tuán)隊(duì)為參觀者提供了技術(shù)咨詢和解答,讓其對(duì)產(chǎn)品有更深入的了解,進(jìn)一步了解市場(chǎng)需求和行業(yè)動(dòng)態(tài)?,F(xiàn)場(chǎng)觀眾對(duì)領(lǐng)拓團(tuán)隊(duì)表達(dá)了廣泛肯定。期待我們下次會(huì)議再會(huì)!現(xiàn)場(chǎng)互動(dòng)


相關(guān)設(shè)備

01精研一體機(jī) EM TXP

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對(duì)樣品進(jìn)行精確定位,定點(diǎn)樣品制備。并對(duì)樣品進(jìn)行銑削、修塊、切割、研磨、拋光及沖鉆等加工,為下一步精細(xì)制樣做準(zhǔn)備,并可實(shí)時(shí)顯微觀察。


02三離子束研磨儀 EM TIC 3X

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針對(duì)硬/軟復(fù)合材料,多孔材料,脆性材料及材質(zhì)不均一性材料,可采用離子束切割拋光技術(shù)獲得高質(zhì)量、真實(shí)的平整截面。


03超薄切片機(jī) UC Enuity

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可制備納米-微米級(jí)厚度切片,滿足從-180°C-室溫超薄切片和半薄切片需求。適用于硬質(zhì)金屬、軟質(zhì)材料等樣品自動(dòng)化操作。


04離子減薄儀 GU-AI9000GU-AI9000

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是集多種功能于一身的高真空離子減薄儀,樣品大薄區(qū)助力觀察,適用于各種固體樣品進(jìn)行離子減薄。

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