Calibus手持式LIBS光譜儀返回列表頁(yè)

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更新時(shí)間：2023-10-10 11:02:13瀏覽次數(shù)：213次

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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)

其他設(shè)備: 頗爾Pall 過(guò)濾與分離 TM Electronics 檢漏儀 Eagle Vision 包裝表面視覺(jué)檢測(cè) Ray-Ran 高分子聚合物測(cè)試 CMC-KUHNKE 金屬罐體檢測(cè)測(cè)試 Messmer Büchel 軟包強(qiáng)度測(cè)試 TMI 軟包表面性能測(cè)試賽默飛世爾Thermo Fisher（FEI）掃描電鏡小坂Kosaka 表面測(cè)量?jī)x 阿朗Arun 直讀光譜儀 C&W 鹽霧箱博勢(shì)Proceq巡鷹智檢便攜硬度及探傷 Systech Illinois 微量氧微量水測(cè)試飛馳Fritsch 球磨粉碎與粒度分析賓得測(cè)試箱 Hentec Industries 可焊性測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Calibus系列手持式LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀是ARUN推出的激光產(chǎn)品，有著的元素分析性能，尤其是C元素檢測(cè)分析性能優(yōu)異，是目前分析檢測(cè)碳元素的手持光譜儀。

詳情介紹

產(chǎn)品特點(diǎn)

* 譜線范圍寬：全譜元素檢測(cè)，可精準(zhǔn)穩(wěn)定檢測(cè)C及合金材料中的Li、Be、B元素，XRF的檢測(cè)盲區(qū)
* 分析能力強(qiáng)：全新高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，搭配CMOS傳感器，使得檢測(cè)精度更高
* ：采用激光誘導(dǎo)擊穿技術(shù)，沒(méi)有輻射危險(xiǎn)，產(chǎn)品通過(guò)《設(shè)備使用安全認(rèn)證》
* 分析速度快：1s完成分辨牌號(hào)，快速分析檢測(cè)
* 樣品適應(yīng)性廣：無(wú)需樣品前處理，樣品適應(yīng)性廣：不要求導(dǎo)電，不要求消解，不要求大量
* 易用性高：智能觸摸屏，人性化交互界面，操作簡(jiǎn)單便捷，大大提高工作效率