當前位置:廣州領拓儀器科技有限公司>>微曠 高性能原位X射線CT>>四維科研CT>> XPloreVista 1000 4D高精度科研級CT
| 參 考 價 | 面議 | 
產品型號XPloreVista 1000 4D
品 牌其他品牌
廠商性質代理商
所 在 地廣州市
更新時間:2024-09-09 14:25:28瀏覽次數(shù):453次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 面議 | 
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 | 
雙襯度成像技術
雙襯度成像技術解決了成分吸收系數(shù)相近導致成像不清的痛點,該技術在吸收襯度成像方式之外,還可以利用穿過物體的X射線束相位改變的信息產生圖像,即相位襯度成像,有效識別出那些單一掃播無法識別的結構。
 
 
  
 
射線源免維護
XLAB-1000所使用射線源采用的一體化設計,在保證性能穩(wěn)定的同時使用簡單,無需耗材,免于維護,很大程度上減輕了使用成本。
 

極小的像素尺寸  
對于同一視野而言,像素尺寸越小,空間分辨率越好。XLAB-1000的探測器像素尺寸僅6.5um,保證了高精度的成像。
 
  多場景原位拓展  
設備采用模塊化設計,預留足夠的腔體空間,可與微曠自研的多場景原位拓展技術體系搭配使用,輕松升級為4DCT,獲取在高溫、拉壓、應力腐蝕、熱壓燒結等近服役工況下樣品的內部結構動態(tài)演化過程。
 
  
強大的軟件系統(tǒng)(X-VISON)
X-VISON 軟件系統(tǒng)實現(xiàn)了從采集到重構的一站式處理,可采取旋轉掃描、限制角度掃播、感興趣掃描、動態(tài)4D掃描等模式。同時擁有抖動消除、環(huán)狀偽影去除、射束硬化矯正等多重算法加持,保證圖像質量。
 
 
 
環(huán)影去除算法 射束硬化矯正算法




 
  
復合材料 紡織材料 增材制造 生命科學 半導體芯片
高精度科研級CT技術參數(shù):
| 空間分辨率1 | ≥5 μm | 
| 像素細節(jié)識別能力 | 200nm | 
| 管電壓 | 90kv | 
| 射線源類型 | 閉管 | 
| 樣品尺寸 | 直徑200mm*高度 200mm | 
| 樣品承重 | 12kg | 
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