塞默飛GENESYS 140可見分光光度計(jì)

塞默飛GENESYS 140可見分光光度計(jì)專為多年重復(fù)使用而設(shè)計(jì)，可使用比色皿，試管或智能8聯(lián)池
保存數(shù)據(jù)并從機(jī)載控制打印報(bào)告
GLP儀器性能驗(yàn)證的自檢診斷功能
3年質(zhì)保，強(qiáng)大技術(shù)支持和售后支持
數(shù)據(jù)Wi-Fi傳輸
 

塞默飛GENESYS 140可見分光光度計(jì)針對材料研究的多功能性

從反射鏡到粉末，您都可以利用 Evolution 350 分光光度計(jì)的精確性能、大樣品室和靈活的軟件選項(xiàng)，輕松完成材料研究工作?？蛇x帶寬讓您能夠優(yōu)化分辨率和能量通量，滿足您的應(yīng)用需求。

1. 多功能光譜分析
利用全譜分析可以更深入地了解樣品特征，有助于識別和排除故障。Evolution 350 分光光度計(jì)和 INSIGHT 軟件允許您按照您的方式分析光譜數(shù)據(jù)：

1.1自動查找多達(dá) 100 個峰和谷，并按高度或位置排序，或在分析后手動進(jìn)行選擇
1.2計(jì)算峰面積或使用值水平交叉特征來解決復(fù)雜問題
1.3使用自動化、用戶定義的計(jì)算公式和各種后處理數(shù)學(xué)函數(shù)，無需手動處理數(shù)據(jù)

2. 高級數(shù)據(jù)處理選項(xiàng)
嵌入至 INSIGHT 軟件中的強(qiáng)大分析工具使用戶能夠快速解析分析信息。特殊的顯示選項(xiàng)使您能夠按照期望的方式查看結(jié)果，以便進(jìn)行更有效的數(shù)據(jù)分析和解析：

2.1自動選擇峰和谷，在收集樣品數(shù)據(jù)時(shí)應(yīng)用平滑功能或計(jì)算導(dǎo)數(shù)
2.2使用復(fù)雜的數(shù)學(xué)特征將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為后期分析所需的格式，包括光譜添加和扣除、比率和歸一化函數(shù)
2.3合并工作簿功能可以快速方便地比較來自多個實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)
2.4也可通過可移植格式（XML、CSV 或 TSV）導(dǎo)出光譜或結(jié)果數(shù)據(jù)或通過電子郵件將其發(fā)送到選定的帳戶，便于進(jìn)一步進(jìn)行離線數(shù)據(jù)處理，并且可以與其它軟件程序兼容

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