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IC芯片焊接/封裝X光檢測儀
  • IC芯片焊接/封裝X光檢測儀
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貨物所在地:江蘇無錫市

地: 無錫

更新時間:2025-06-12 17:31:22

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( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝?。?/p>

X-RAY無損檢測X光射線 (以下簡稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長但高電磁輻射線。而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置,利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質后其光強度的變化,產(chǎn)生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結構,進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。

硬件PCBA電子產(chǎn)品焊接導入無鉛制程后,由于無鉛焊料的特性,如熔點高、潤濕性差、工藝窗口窄等,焊接過程出現(xiàn)了無鉛焊接*的缺陷及不良,如錫珠、焊點粗糙、漏焊和少錫,以及空洞等。在焊接大平面和低托腳高度元件時會有空洞形成,如QFN 元件。這類元件的使用正在越來越多,為了滿足IPC 標準,空洞形成使許多PCB電路板設計師、PCBA焊接EMS代工廠商和質量控制人員都倍感頭痛。
  
  優(yōu)化空洞性能的參數(shù)通常是焊膏化學成分、回流焊溫度曲線、基板和元件的涂飾以及焊盤和SMT鋼網(wǎng)模板優(yōu)化設計。然而,在實踐中,改變這些參數(shù)有明顯的局限性,盡管進行了很多努力進行優(yōu)化,但是仍然經(jīng)??吹竭^高的空洞率水平。
  
  產(chǎn)生焊接空洞的根本原因為錫膏熔化后包裹在其中的空氣或揮發(fā)氣體沒有*排出,影響因素包括錫膏材料、錫膏印刷形狀、錫膏印刷量、回流溫度、回流時間、焊接尺寸、結構等。

日聯(lián)科技AX7900是新升級的具有較高的性價比的X-Ray檢測設備

產(chǎn)品描述:

     ●外型美觀,人機界面友好

超大載物臺及桌面檢測區(qū)域

 24寸高清顯示器,搭載*圖像處理軟件

 配置權限管理系統(tǒng)

 配置能量實時監(jiān)控系統(tǒng)

 支持CNC自動高速跑位檢測

     ●操作更簡便、圖像更清晰

應用領域:

該產(chǎn)品主要應用于電子半導體、SMT、LED電池、ICBGA、CSP檢測,也可用于汽車零部件、鋁壓鑄模、光伏產(chǎn)品模壓塑料、陶瓷制品等特殊行業(yè)檢測。

檢測圖片:

 

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