湖南格雷柏電子科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第3年

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TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

    ES620

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質(zhì)

    代理商

  • 所在地

    長(zhǎng)沙市

更新時(shí)間:2024-09-20 16:49:59瀏覽次數(shù):2012次

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TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統(tǒng),用于模擬靜電放電脈沖事件,例如TLP,vf-TLP,HMM,HBM,EFT和低壓浪涌。系統(tǒng)會(huì)檢測(cè)脈沖期間皮秒或納秒級(jí)的瞬態(tài)電壓和電流波形,并測(cè)試脈沖前、后被測(cè)器件的狀態(tài)(漏電流,擊穿電壓,偏置電流,靜態(tài)IV曲線等),可測(cè)的DUT包括靜電防護(hù)器件,半導(dǎo)體,電路模塊,觸摸板傳感器等。

系統(tǒng)的傳輸線脈沖(TLP)測(cè)試和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。ES620系統(tǒng)能夠向器件注入高質(zhì)量矩形波脈沖,同時(shí)記錄流經(jīng)器件的電流和器件兩端電壓。測(cè)試結(jié)果能夠提供脈沖式IV曲線,使用戶能夠表征器件在納秒級(jí)的瞬態(tài)響應(yīng)。系統(tǒng)還具有器件失效自動(dòng)化檢測(cè)方法,例如漏電流測(cè)試,靜態(tài)IV曲線,熔斷和火花放電。

超快TLP (vf-TLP) 測(cè)試和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。vf-TLP測(cè)試用于模擬CDM速度的靜電放電,捕捉高速(大約100ps上升沿)狀態(tài)下器件的電流和電壓。用戶可以通過這種方法測(cè)試器件的響應(yīng)速度和峰值電壓。

人體金屬模型(HMM) 測(cè)試和分析功能符合ANSI/ESD SP5. 6-2009測(cè)試方法,該方法可替代IEC61000-4-2中系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試方法,用于測(cè)試IC。當(dāng)測(cè)試低阻抗器件或者晶圓時(shí),系統(tǒng)的該測(cè)試功能可以提供符合IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)的理想波形,并且避免許多靜電放電槍測(cè)試時(shí)可能出現(xiàn)的問題,例如可重復(fù)性差,放電位置不對(duì),由未屏蔽繼電器產(chǎn)生的EMI互擾,需要設(shè)置大接地平板和耦合板。

系統(tǒng)有完整的軟件控制,可定制上升沿時(shí)間和脈沖寬度,與IVI儀器有良好的兼容性,體積小。

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn):

配置靈活的TLP IV曲線脈沖測(cè)試分析系統(tǒng)

超便攜設(shè)計(jì)

超快測(cè)試速度,程序并行處理

目前測(cè)試版本有25A,50A和100A模塊

高質(zhì)量TLP脈沖

可擴(kuò)展的測(cè)試模塊包括vf-TLP,HMM,HBM和低壓浪涌

自動(dòng)化故障檢測(cè)方法包括:DC抽查 (電壓或電流),靜態(tài)IV,熔融,擊穿,偏置源波動(dòng)以及客戶自定義

軟件控制的脈沖注入:?jiǎn)未?,連續(xù),IV-曲線表征

上升沿選項(xiàng):60ps至 50ns(取決于模塊)

脈沖寬度選項(xiàng):1ns至3200ns(取決于模塊)

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用:

晶圓級(jí)ESD測(cè)試

PCB/封裝級(jí)ESD測(cè)試

系統(tǒng)/電路ESD測(cè)試

安全工作區(qū) (SOA) 測(cè)試

充電恢復(fù)時(shí)間測(cè)試

差分ESD脈沖注入

觸摸屏ITO微帶線熔斷測(cè)試

觸摸屏ITO微帶線火花放電測(cè)試

TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD STM 5.5.1-2008標(biāo)準(zhǔn)

vf-TLP注入電流脈沖符合并超過ANSI/ESD SP5.5.2-2007標(biāo)準(zhǔn)

對(duì)于低阻抗器件,HMM的注入電流脈沖與IEC61000-4-2波形相符

規(guī)格:

ES620基于傳輸線脈沖的IV-曲線測(cè)試系統(tǒng)

參量

ES620-25

ES620-50

ES620-100

單位

備注

開路輸出電壓

±0.5~1250

±0.5~2500

±0.5~5000

V


50?負(fù)載時(shí),輸出電壓

±0.25–625

±0.5~1250

±0.5~2500

V


50?負(fù)載時(shí),小電壓步長(zhǎng)低電壓–40V

0.01

0.01

0.02

V

帶46dB反射抑制

50?負(fù)載時(shí),小電壓步長(zhǎng)40V至 高電壓

0.1

0.1

0.2

V

帶6dB反射抑制

輸出電壓誤差

<5%

%

自校準(zhǔn)后

短路輸出電流

±0.01~25

±0.02~50

±0.04~100

A


50?負(fù)載時(shí),輸出電流

±0.005~12.5

±0.01~25

±0.02~50

A


50?負(fù)載時(shí),峰值功率

≥7.813

≥31.25

≥125

kW


自帶TLP上升沿時(shí)間

≤0.2

≤0.2

≤0.3

ns

ES620-25可達(dá)60ps

其他上升沿時(shí)間選項(xiàng)

0.06~50

ns

與模型有關(guān),請(qǐng)看表2

自帶TLP脈沖寬度

100±1

ns

自定義

其他脈寬選項(xiàng)

1~3200

5~1000

5~1000

ns

與模型有關(guān),請(qǐng)看表3

測(cè)試間隔時(shí)間

一般為0.2~2

s

與示波器,SMU和規(guī)定有關(guān)

尺寸

347X300X145

mm


重量

5

6

8

kg


I&V直接測(cè)量

I&V直接測(cè)量探頭A6213-T1 (CT-2電流探頭和1KT型電壓探頭)


可配用示波器

Tektronix,Agilent,LeCroy,Rigol的大部分型號(hào)

其他型號(hào)可根據(jù)客戶需求進(jìn)行匹配支持

可配用SMU

Keithley 24xx/26xx系列SMU

其他型號(hào)可根據(jù)客戶需求進(jìn)行匹配支持

ES620-HMM1擴(kuò)展的人體金屬模型模塊(DUT為短路,100?HMM,基于ANSI/ESD SP5.6-2009標(biāo)準(zhǔn))

參數(shù)

ES620-25

ES620-50

ES620-100

單位

備注

HMM峰值電流

22.5

45

90

A


每千伏3.75A≤±10%

IEC 61000-4-2 (R=330?,C=150pF)

30ns時(shí)的HMM 電流

12

24

48

A

≤±10% (優(yōu)于IEC的±30% )

60ns時(shí)的HMM 電流

6

12

24

A

≤±10% (優(yōu)于IEC的±30% )

ES620-HBM1擴(kuò)展的人體模型模塊(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014 R=1.5k?,C=100pF)

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)

TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)TLP傳輸線脈沖測(cè)試系統(tǒng)






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