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塑料介電常數(shù)及介質損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

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參考價 29900
訂貨量 1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 LDJD-C
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2024/06/28 10:52:34瀏覽次數(shù):1621

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產品簡介

價格區(qū)間 2萬-5萬 應用領域 建材,綜合
LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質損耗測試儀——航天偉創(chuàng)
LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。

詳細介紹

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

該介電常數(shù)儀測試系統(tǒng)由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據采集和自動測量控件以及電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的&佳解決方案。

工作特性

1.     平板電容器:

       極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

       極片間距可調范圍:≥15mm

2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

4測微桿分辨率:0.001mm

 

工作原理

本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設備介電常數(shù)及介質損耗測試儀作為調諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司生產經營多種型號介電常數(shù)儀,具體如下:

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

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