LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
[特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計(jì)，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，并且是一種應(yīng)用。 （測量線）具備存儲(chǔ)功能，測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，膜厚管理的上下限設(shè)定，簡單的統(tǒng)計(jì)處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能

LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

 [特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計(jì)，例如磁性金屬上的鍍層（不包括電解鎳鍍層）和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，并且是一種應(yīng)用。 （測量線）具備存儲(chǔ)功能，測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，膜厚管理的上下限設(shè)定，簡單的統(tǒng)計(jì)處理，數(shù)據(jù)輸出等16種功能

 

LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

規(guī)格/尺寸信息

產(chǎn)品類別

膜厚儀	測量范圍（μm）	0-2500
分辨率（μm）	小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm	方法	電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)	磁性材料上的非磁性膜	準(zhǔn)確性	小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1000μm：±2％，1000μm或更大：±3％
符合標(biāo)準(zhǔn)	ASTM E 376 / JIS H0401 / ISO 1460 / ISO 2064 / ISO 2178 / ISO 2808 / BS 3900-C5ASTM B 499 / JIS K5600-1-7 / ASTM D 7091-5 / JIS H8401 / JIS H8501 / JIS H8641 / ISO 19840	顯示方式	數(shù)字（帶背光的LCD，小顯示數(shù)字為0.1μm）
外部輸出	可以輸出到個(gè)人計(jì)算機(jī)（USB或RS-232C）或打印機(jī)（RS-232C）	電源供應(yīng)	電池1.5V（AA堿性）x 4
能量消耗	80mW（背光關(guān)閉時(shí)）	工作溫度極限	0-40℃

 

產(chǎn)品功能/規(guī)格

產(chǎn)品基本規(guī)格/功能

●緊湊輕巧的機(jī)身

  尺寸為寬75mm，長145mm，厚31mm，質(zhì)量340g。由于尺寸是可以單手獲得的，因此即使在測量現(xiàn)場也可以輕松使用。

 

●具備多種功能

具備正常膜厚控制所需的所有功能。
應(yīng)用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，上/下限設(shè)置，統(tǒng)計(jì)計(jì)算（測量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時(shí)間，自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間，背光亮度，背光時(shí)間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動(dòng)批次分類，測量方法，維護(hù)模式等?？梢愿鶕?jù)需要設(shè)置16種功能。 

 

●完整選項(xiàng)

可選的測量架LW-990使得易于測量難以測量的彎曲表面（例如管道），甚至在測量普通平面時(shí)，也可以將重復(fù)誤差和人為誤差降至低。
另外，通過使用數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger LDL-03”和“ McWAVE series”，可以以MS Excel格式保存數(shù)據(jù)，編輯測量數(shù)據(jù)并創(chuàng)建各種管理圖。 ..
（McWAVE系列是CEC的商標(biāo)，MS Excel是Microsoft的商標(biāo)。）

選擇架“ LW-990”

 

●測量原理

當(dāng)電磁吸引型（LE-373 Fe探頭）
交流電磁鐵靠近鐵（磁性金屬）時(shí)，穿過線圈的磁通量會(huì)根據(jù)接近距離而變化，因此施加在線圈兩端的電壓也會(huì)發(fā)生變化。
電磁膜厚度計(jì)從電流值讀取該電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚度，該膜厚度用于測量磁性金屬上的非磁性膜。

 

●規(guī)格

測量方式	電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)	磁性金屬上的非磁性涂層
探測	單點(diǎn)接觸恒壓型（LEP-J）
測量范圍	0-2,500μm或99.0密耳
符合標(biāo)準(zhǔn)	JIS K5600-1-7，JIS H0401，JIS H8401， JIS H8501，JIS H8641 / ISO 1460， ISO 2064，ISO 2178，ISO 2808， ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499， ASTM D 7091-5，ASTM E 376
應(yīng)用程序 部署內(nèi)存	100
測量精度	小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1,000μm：±2％，1,000μm或更大：±3％
解析度	小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm
資料儲(chǔ)存	39,000點(diǎn)
附加功能	應(yīng)用程序選擇，背景校正，數(shù)據(jù)刪除，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，上下限設(shè)置，統(tǒng)計(jì)計(jì)算（測量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值），顯示選擇，日期/時(shí)間， 自動(dòng)關(guān)閉時(shí)間，背光亮度，背光時(shí)間，單位，數(shù)據(jù)輸出，自動(dòng)批次分類，測量方法，維護(hù)方式
顯示方式	數(shù)字（LCD 128 x 64點(diǎn)帶背光，小顯示數(shù)字為0.1μm）
外部輸出	個(gè)人計(jì)算機(jī)（USB或RS-232C）
電源供應(yīng)	電池1.5V（AA堿性）x 4
能量消耗	80mW（背光關(guān)閉時(shí)）
電池壽命	100小時(shí)（背光關(guān)閉時(shí)連續(xù)使用）
工作溫度極限	0至+ 40°C
尺寸/質(zhì)量	75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34千克
配件	標(biāo)準(zhǔn)板（10μm，50μm，100μm，500μm，1,000μm，1,500μm，近似值，每組1個(gè)，總共6張）， 標(biāo)準(zhǔn)板盒，AA堿性電池1.5 V，探頭適配器，手提箱，鐵底座
選項(xiàng)	標(biāo)準(zhǔn)板（配件以外的厚度），測量臺(tái)“ LW-990”，數(shù)據(jù)記錄器軟件“ LDL-03”，個(gè)人計(jì)算機(jī)電纜，RS-232C-USB電纜， 數(shù)據(jù)管理軟件“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Std。”，“ McWAVE Pro” “。”“ MultiProp”