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PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,透射電鏡原位拉伸樣品桿,透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力,結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
PicoFemto透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿,透射電鏡真空轉(zhuǎn)移樣品桿采用可伸縮的樣品桿端頭設(shè)計(jì),從而實(shí)現(xiàn)將樣品從真空室或手套箱的真空環(huán)境下轉(zhuǎn)移到透射電鏡內(nèi)的目的,避...
PicoFemto透射電鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)(T-staion)由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。適用于各品牌透射電鏡樣品桿,保證樣品桿*處于高...
透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)?,同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對(duì)樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯...
PicoFemto ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡,ZEM15掃描速度快,信號(hào)采集帶寬10M,可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作,不需對(duì)...
PicoFemto掃描電鏡SEM原位光電力一體化系統(tǒng),原位掃描電鏡光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的...
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿,透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿同時(shí)具備β角傾轉(zhuǎn)以及360°水平旋轉(zhuǎn)的功能,可以在...
原位MEMS-STM-TEM樣品桿多場測量系統(tǒng)是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電...
PicoFemto掃描電鏡SEM原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng), 掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì),攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題...
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實(shí)現(xiàn)高1 Bar & 800 ℃的觀測條件。該系統(tǒng)使研究者可以在原子尺度上實(shí)時(shí)觀測催...
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿,透射電鏡多孔樣品桿使研究者們可以將多三個(gè)樣品同時(shí)置入透射電鏡中,*提高了透射電鏡的使用效率。該產(chǎn)品還可以選擇雙傾版本,每個(gè)...
PicoFemto冷凍樣品桿,TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下,減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷,同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
PicoFemto掃描電鏡SEM原位高溫拉伸臺(tái), 掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊,可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)...
掃描電鏡原位氣氛環(huán)境測量系統(tǒng)將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上,在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對(duì)實(shí)驗(yàn)樣品原位加熱。掃描電鏡SEM原位...
透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng),采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì),更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中,樣品被密封在超薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi),池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。芯片...
透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)-樣品桿,透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能...
透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng),透射電子顯微鏡可以在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率。透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、...
透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時(shí),動(dòng)態(tài)、...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時(shí),動(dòng)...
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