ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣 參考價(jià)：面議
ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣,為 ALTO 冷凍掃描電鏡系統(tǒng)而設(shè)計(jì)的撞擊式冷凍制樣設(shè)備，提供了樣品載體和樣品載臺(tái)，它們可以放置在 A...
超高分辨場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Apreo 2 SEM超高分辨場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微...
Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697 參考價(jià)：面議
Gatan氬離子拋光系統(tǒng)Ilion II 697，可利用IlionII進(jìn)行拋光加工的材料種類十分廣泛，包括由多元素組成的試樣，以及具有不同的機(jī)械硬度、尺寸和物理...
SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀 參考價(jià)：面議
SOLARUS （955）Plasma等離子清洗儀，去除碳?xì)浠衔飳EM和SEM樣品臺(tái)或樣品的污染，*的清洗解決方案，它利用等離子配方，對于所有的樣品，包括H...
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀 參考價(jià)：面議
BRIGHT KAS-2000F離子濺射儀，針對SEM/TEM開發(fā)出的產(chǎn)品，它可以對不導(dǎo)電樣品進(jìn)行噴鍍，使導(dǎo)電性不理想的樣品也能夠在SEM/TEM中進(jìn)行觀測。
場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡...
高性能場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實(shí)時(shí)元素成像功能和先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡...
聚焦離子束電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Helios 5 Laser 聚焦離子束電鏡提供了優(yōu)良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。
FIB雙束電鏡 參考價(jià)：面議
新一代的賽默飛世爾科技 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可滿足材料科學(xué)研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是...
超高分辨率分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的樣品制備和三維表...
PFIB顯微鏡 參考價(jià)：面議
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質(zhì)量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質(zhì)量亞表面和三維表征設(shè)備。
FIB雙束掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可滿足材料科學(xué)研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰(zhàn)性的樣品。
聚焦離子束顯微鏡 參考價(jià)：面議
聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn)：高材料對比度，快、簡單、準(zhǔn)確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探...
FIB顯微鏡 參考價(jià)：面議
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導(dǎo)電材料提供出色的...
FIB雙束掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計(jì)，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)和工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行高級研...
透射電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應(yīng)用的場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20...
場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientific Talos F200S G2 200kV場發(fā)射掃描/透射電子顯微鏡（S/TEM）結(jié)合快速、多通道、高分辨率S/TEM 成像和...
STEM透射電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡提供快速、準(zhǔn)確的納米材料多尺度表征，配備多種創(chuàng)新功能以提高效率、精度與易用性...
透射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Talos L120C 透射掃描電子顯微鏡是 Tecnai Spirit 的后繼者，一種具有全新設(shè)計(jì)和操作概念的新型 120 kV 掃描/透射電子顯微鏡（S/T...
飛秒激光PFIB 參考價(jià)：面議
飛秒激光PFIB Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了優(yōu)良的能力，大體積3D分析，Ga-...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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