武漢賽斯特精密儀器有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第6年

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  • 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)

    KEW3500 測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)PC 機(jī)對(duì)其內(nèi)部功率源、測(cè)試施加條件、測(cè)試具體線路進(jìn)行控制，達(dá)到對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試的目的。在一定的測(cè)試條件下，這些源與條件負(fù)載按照條件準(zhǔn)...

    型號(hào)： KEW3500-2... 所在地：武漢市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/1/3 16:27:10 對(duì)比
    半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)試半導(dǎo)體分立器測(cè)試半導(dǎo)體檢測(cè)
  • 半導(dǎo)體SiC器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    具有高測(cè)試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn) MOSFET、IGBT、DIODE功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)的精確測(cè)試。

    型號(hào)： 6500 所在地：武漢市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/1/3 16:16:59 對(duì)比
    半導(dǎo)體SiC器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體SiC器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體SiC器件測(cè)試系統(tǒng)動(dòng)態(tài)半導(dǎo)體測(cè)試動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試
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