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晶圓在線測厚系統(tǒng)

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  • 晶圓在線測厚系統(tǒng)
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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 GS-300
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價 收藏產(chǎn)品

更新時間:2020-06-16 11:16:54瀏覽次數(shù):1562

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣
晶圓在線測厚系統(tǒng) GS-300可安裝在load port區(qū),具有高精度自動校準(zhǔn)單元和自動mapping系統(tǒng)。可根據(jù)客戶要求選擇適合的設(shè)備。

詳細(xì)介紹

晶圓在線測厚系統(tǒng) GS-300

晶圓在線測厚系統(tǒng) GS-300 搭載圖案對準(zhǔn)功能,X-Y位置確認(rèn)精度2μm以下。

 

特點

  • 可整合至300mm設(shè)備前端模組(EFEM)單元預(yù)備端口
  • 實現(xiàn)嵌入晶片中的布線圖案的對準(zhǔn)(IR相機)
  • 可對應(yīng)半導(dǎo)體制造的高生產(chǎn)量要求
  • 可支持預(yù)對準(zhǔn)校正功能
  • 緊湊模式(W475mm×D555mm)

測定事例

  • 硅通孔技術(shù)(TSV)嵌入圖案晶圓研磨后的厚度
  • 12寸(300mm)晶圓厚度


晶圓在線測厚系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

名稱

Rθ驅(qū)動

mapping系統(tǒng)

高精度X-Y驅(qū)動

mapping

搭載對應(yīng)

mapping系統(tǒng)

型式SF-3RθSF-3AASF-3AAF
stage方式Rθ stageX-Y stageRθ XY
光學(xué)系probe+CCD cameraprobe+CCD camera同軸顯微head+IR camera
大晶圓尺寸mm300以下300以下僅300
晶圓角度補正
圖案對位
晶圓厚度范圍

SF-3厚度感應(yīng)器

參照式樣

SF-3厚度感應(yīng)器

參照式樣

SF-3厚度感應(yīng)器

參照式樣

裝置尺寸(本體)

W×D×H

約465×615×540約510×700×680約475×555×1620

裝置尺寸(控制)

W×D×H

約430×450×210約500×177×273約475×555×1620

測定案例

貼合晶圓(Si/復(fù)合/支撐基板)

Si膜厚分布(約25μm)

復(fù)合膜厚分布(約25μm)

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