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線掃描膜厚儀

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  • 線掃描膜厚儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 Line--scan
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
在線詢價 收藏產(chǎn)品

更新時間：2020-06-12 16:24:06瀏覽次數(shù)：1838

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,印刷包裝,電氣
線掃描膜厚儀采用分光干涉式，可同時測量500點膜厚，在線檢查整面寬幅薄膜，追究工程不良的原因。

詳細介紹

 

線掃描膜厚儀可在線檢查整面寬幅薄膜，適用于生產(chǎn)。不受偏差的影響，高速測量，時間間隔僅10豪秒。

 

線掃描膜厚儀特點

  • 采用線掃描方式檢測整面薄膜
  • 硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
  • 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援
  • 實現(xiàn)高精度測量
  • 實現(xiàn)高速測量
  • 不受偏差影響
  • 可對應寬幅樣品（TD方向大可測量10m）

 

式樣

測量項目膜厚（FFT)
位置分解能1mm
測量寬幅500mm
波長范圍400~920nm
各單元的波長寬幅約0.6nm
膜厚測量范圍2~250μm
測量間隔10msec~

測量案例

500mm寬的包裝薄膜

實時測量，全寬、全長的不均勻性一幕了然。

因為我們是分光膜厚測量的，所以能實現(xiàn)高精度全寬·全長的測量。

 

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