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線掃描膜厚儀離線型

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 蘇州市
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更新時(shí)間:2020-06-12 16:24:38瀏覽次數(shù):1153

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應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣
線掃描膜厚儀離線型采用線掃描方式可同時(shí)測(cè)量500點(diǎn)膜厚,實(shí)現(xiàn)全寬測(cè)量。作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援。

詳細(xì)介紹

線掃描膜厚儀離線型

產(chǎn)品信息

特點(diǎn)

·全面·高速·高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè)

·硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)

·作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援

·實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量

·實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量(500萬(wàn)點(diǎn)以上/分)

式樣

測(cè)量位置膜厚(FFT)
位置分解能1mm以下
測(cè)量尺寸大250mm寬×無(wú)限長(zhǎng)度限制
波長(zhǎng)范圍400~920nm
各單元的波長(zhǎng)范圍約0.6nm
膜厚測(cè)量范圍2~250μm
測(cè)量間隔100msec~
裝置尺寸W600×D680×H1250mm

 

測(cè)量例

250mm寬的薄膜案例

 

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