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恒光講堂|古代繪畫分析——近紅外二區(qū)NIR-II的應(yīng)用

時(shí)間:2021/10/13閱讀:516
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本文要點(diǎn):目前,古畫的無損檢測(cè)主要依賴于光譜分析技術(shù)。在短波紅外(Shortwave Infrared,SWIR),即近紅外二區(qū)(NIR-II)頻段上的高光譜成像技術(shù)可以準(zhǔn)確地提取畫作的顏料成分、修改痕跡及繪畫方式等深層信息。這些信息在研究古代繪畫和其他文物保護(hù)及修復(fù)方面具有重要的科學(xué)和實(shí)用價(jià)值。本文利用SWIR地面成像光譜儀提取了一幅清朝畫作的工筆線條,鑒定出畫作使用的礦物顏料種類以及涂改覆蓋痕跡。


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過去很長(zhǎng)一段時(shí)間里,多光譜和高光譜分析技術(shù)(Multispectral and hyperspectral analysis technology)主要用于遙感領(lǐng)域的研究,但近來學(xué)者意識(shí)到了它在文物研究中的應(yīng)用價(jià)值。本文以清朝的《崇慶皇太后八旬萬壽圖》(圖1)為例,展示了短波紅外(1000-2500 nm)光譜的文物分析價(jià)值。


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圖 1 《崇慶皇太后八旬萬壽圖》(No. Gu-6541)


作者在研究中使用了短波紅外地面成像光譜系統(tǒng)(圖2)。掃描得到的高光譜成像數(shù)據(jù)是一幅原始數(shù)字(digital number,DN)圖像,可以轉(zhuǎn)換成輻射圖像。但是因?yàn)楣庹杖Q于一天中的時(shí)間和天氣,該圖像不能直接用于光譜分析,需要進(jìn)行反射率校正。對(duì)于朗伯曲面,作為近似值的輻射L(λ)是物體反射率R(λ)和圖像采集期間光照E(λ)的乘積。

公式截圖1.png


圖片2.png

圖 2 (a)SWIR成像光譜系統(tǒng)照片(b)成像原理示意圖


反射率R通過在成像光譜儀的視場(chǎng)內(nèi)放置了一個(gè)校準(zhǔn)的朗伯?dāng)U散器白板獲得。在固定光照(E)條件下:

公式截圖2.png

光譜角制圖(Spectral angle mapper,SAM)是一種基于光譜曲線整體相似性的算法,常用于高光譜數(shù)據(jù)處理。通過計(jì)算光譜和參考光譜之間的角度θ確定二者關(guān)系。兩個(gè)光譜之間的角度越小,相似度越高。

公式截圖3.png

首先,作者每間隔200 nm提取了8組SWIR成像光譜數(shù)據(jù)(圖3)。從各波段圖像中可以看出,隨著波長(zhǎng)的增加,人物衣服的顏色由暗向亮過渡。在1600 - 2400nm波長(zhǎng)處,衣服的顏色的變化不再明顯,但男子胸前的圖案、帽子的頂部和凳子的下緣顯現(xiàn)出來。這說明SWIR成像光譜數(shù)據(jù)可以很好地提取工筆畫線稿。

圖片3.png

圖 3 不同波長(zhǎng)的短波紅外成像數(shù)據(jù)(波長(zhǎng)越長(zhǎng)線繪制越明顯)。(a)1002 nm;(b) 1202 nm;(c) 1403 nm;(d) 1604 nm;(e) 1804 nm;(f) 2005 nm;(g) 2205 nm;(h) 2406 nm。


然后,作者鑒定了畫作的顏料成分。這里將便攜式地物光譜儀(型號(hào)PSR-3500, Spectral Evolution, Lawrence, MA)測(cè)定的藍(lán)銅礦與孔雀石綠顏料的SWIR曲線作為參考標(biāo)準(zhǔn),與SWIR成像譜圖結(jié)果進(jìn)行對(duì)比(圖4)。圖4a顯示在藍(lán)銅礦的特征吸收峰2282 nm和2351 nm位置,兩條曲線擬合得很好。因此,畫作中衣服的藍(lán)色顏料可以鑒別為藍(lán)銅礦。同理,在孔雀石綠特征吸收位置2270 nm和2362 nm處,SWIR成像譜圖與參考譜圖相吻合。


圖片4.png

圖 4 SWIR成像光譜(實(shí)線)與PSR-3500(虛線)光譜比較。(一)藍(lán)銅礦;(b)孔雀石綠。


接下來,作者根據(jù)圖4中確定的顏料,采用SAM與監(jiān)督分類對(duì)畫中使用的顏料進(jìn)行批量提取。圖5d顯示藍(lán)銅礦繪制得到衣服深藍(lán)色部分、凳子的底部、右上角的色帶部分都被準(zhǔn)確提取。同時(shí),畫的背景(圖5f)也用SAM提取出來。結(jié)果顯示,人物的墻壁和臉都是用同樣的顏料上色的。

圖片6.png

圖 6 提取修改痕跡。(a) 453 nm圖像;(b) 980 nm圖像;(c) 1302 nm圖像;(d) 690 nm、514 nm和453 nm圖像對(duì)應(yīng)的偽彩色合成圖像,修正標(biāo)記明顯;(e) PCA2形象;(f) PCA3的形象。(e)和(f)是第二和第三主分量的圖像。


綜上所述,SWIR成像光譜數(shù)據(jù)可以很容易地識(shí)別難以識(shí)別的信息。該研究將擴(kuò)大SWIR成像光譜技術(shù)在文物研究中的應(yīng)用范圍(如:文物數(shù)字歸檔、文物診斷和文物修復(fù)),促進(jìn)我國文物檢測(cè)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展。


參考文獻(xiàn)

Taixia Wu, Guanghua Li, Yang Z, etal. Shortwave Infrared Imaging Spectroscopy for Analysis of Ancient Paintings[J]. Applied Spectroscopy, 2016, 71(5):977-987.


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 恒光智影

          上海恒光智影醫(yī)療科技有限公司,專注于近紅外二區(qū)成像技術(shù)。致力于為生物醫(yī)學(xué)、臨床前和臨床應(yīng)用等相關(guān)領(lǐng)域的研究提供*的、一體化的成像解決方案。自主研發(fā)近紅外二區(qū)小動(dòng)物活體熒光成像系統(tǒng)-MARS。

          與基于可見光波長(zhǎng)的傳統(tǒng)成像技術(shù)相比,我們的技術(shù)側(cè)重于X射線、紫外、紅外、短波紅外、太赫茲范圍,可為腫瘤學(xué)、神經(jīng)學(xué)、心血管、藥代動(dòng)力學(xué)等一系列學(xué)科的科研人員提供清晰的成像效果,助力科技研發(fā)。

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