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目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>半導(dǎo)體材料測試>>半導(dǎo)體多功能測試>> 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)

少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)
  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 波銘科儀
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2025-01-23 12:29:01瀏覽次數(shù):239評(píng)價(jià)

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WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

Capability:

  • 低溫測試

  • 少子壽命測試

  • μ LBIC 微光誘導(dǎo)電流測試

  • 方塊電阻測試

少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng) 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)                 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)









上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。

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