納米粒度及Zeta電位分析儀 返回列表頁

　　納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細(xì)小，其表面的晶體結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，從而在電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)活性等方面表現(xiàn)出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數(shù)，準(zhǔn)確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關(guān)鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù)，Zeta電位越高，膠體系統(tǒng)就越穩(wěn)定，反之，Zeta電位越低，膠體系統(tǒng)穩(wěn)定性就越差，因此通過測量和調(diào)整體系的Zeta電位，就可以控制膠體的穩(wěn)定性。因此，廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量控制以及科學(xué)研究，以便深入了解產(chǎn)品特性。