九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

13739170031

  • 襯底電阻率方阻測(cè)試儀

    襯底電阻率方阻測(cè)試儀：襯底，或稱基片（substrate），是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu)、機(jī)械強(qiáng)度、...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/1/16 14:08:39 對(duì)比
    襯底電阻率方阻渦流法四探針
  • 晶圓電阻率測(cè)試儀

    晶圓電阻率測(cè)試儀：電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下，有公式R=ρl/S，其中ρ就是電阻率，l為材料的長(zhǎng)度，...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/1/16 13:55:39 對(duì)比
    晶圓電阻率晶圓缺陷渦流法方阻
  • 晶圓方阻測(cè)試儀

    主營(yíng)產(chǎn)品：晶圓方阻測(cè)試儀、晶圓電阻率測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，測(cè)試硅片，碳化硅、科...

    型號(hào)： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/1/16 13:10:57 對(duì)比
    晶圓方阻硅片電阻率遷移率測(cè)試儀渦流法電阻率測(cè)試儀梢子壽命測(cè)試儀
1共1頁(yè),3條記錄 跳轉(zhuǎn)

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言