九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司
中級會(huì)員 | 第2年

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  • 碳化硅半絕緣電阻率測試儀

    半導(dǎo)體材料根據(jù)時(shí)間先后可以分為三代。第一代為鍺、硅等普通單質(zhì)材料，其特點(diǎn)為開關(guān)便捷，一般多用于集成電路。第二代為砷化鎵、磷化銦等化合物半導(dǎo)體，主要用于發(fā)光及通訊...

    型號： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/6/28 10:10:37 對比
    碳化硅半絕緣高阻電阻率非接觸
  • 襯底電阻率方阻測試儀

    襯底電阻率方阻測試儀：襯底，或稱基片（substrate），是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu)、機(jī)械強(qiáng)度、...

    型號： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/6/26 11:06:53 對比
    襯底電阻率方阻渦流法四探針
  • 晶圓電阻率測試儀

    晶圓電阻率測試儀：電阻率（resistivity）是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下，有公式R=ρl/S，其中ρ就是電阻率，l為材料的長度，...

    型號： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/6/26 10:55:56 對比
    晶圓電阻率晶圓缺陷渦流法方阻
  • 晶圓方阻測試儀

    主營產(chǎn)品：晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，測試硅片，碳化硅、科...

    型號： 所在地：蘇州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2025/6/26 10:12:42 對比
    晶圓方阻硅片電阻率遷移率測試儀渦流法電阻率測試儀梢子壽命測試儀
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